摘要 | 第8-10页 |
Abstract | 第10-11页 |
第1章 绪论 | 第12-18页 |
1.1 引言 | 第12页 |
1.2 废手机电路板 | 第12页 |
1.3 废电路板的回收处理技术 | 第12-15页 |
1.3.1 物理回收技术 | 第13-14页 |
1.3.2 火法回收技术 | 第14页 |
1.3.3 生物回收技术 | 第14页 |
1.3.4 湿法回收技术 | 第14-15页 |
1.3.5 电化学回收技术 | 第15页 |
1.4 课题意义 | 第15-16页 |
1.5 研究内容 | 第16-18页 |
第2章 实验研究方法 | 第18-26页 |
2.1 实验总体技术路线 | 第18-19页 |
2.2 实验设备及材料 | 第19-20页 |
2.3 实验步骤 | 第20-21页 |
2.3.1 电路板破碎原料浮选分离实验 | 第20-21页 |
2.3.2 铜富集体制备实验 | 第21页 |
2.3.3 电沉积回收纯铜实验 | 第21页 |
2.4 实验设备及药剂介绍 | 第21-24页 |
2.4.1 浮选机 | 第21-23页 |
2.4.2 浮选药剂 | 第23-24页 |
2.5 检测技术 | 第24-26页 |
2.5.1 X射线荧光光谱检测 | 第24-25页 |
2.5.2 X射线衍射分析法 | 第25页 |
2.5.3 激光粒度仪分析法 | 第25页 |
2.5.4 扫描电镜分析 | 第25-26页 |
第3章 铜富集体制备 | 第26-49页 |
3.1 实验流程图 | 第26-27页 |
3.2 废手机电路板破碎 | 第27-32页 |
3.2.1 电子元器件拆解 | 第27-28页 |
3.2.2 废手机电路板基板破碎 | 第28-32页 |
3.2.2.1 一级破碎 | 第28-30页 |
3.2.2.2 二级破碎 | 第30-31页 |
3.2.2.3 非基板物质分离 | 第31-32页 |
3.3 浮选法分离金属-非金属 | 第32-34页 |
3.3.1 浮选分离流程 | 第32页 |
3.3.2 各粒级颗粒浮选工艺 | 第32-33页 |
3.3.3 分离结果分析讨论 | 第33-34页 |
3.4 金属-非金属浮选分离结果检测分析 | 第34-38页 |
3.4.1 金属富集体检测结果 | 第35-36页 |
3.4.2 非金属富集体检测结果 | 第36-37页 |
3.4.3 各粒级中几种主要金属的回收率 | 第37-38页 |
3.5 三级破碎 | 第38-42页 |
3.5.1 破碎工艺 | 第38页 |
3.5.2 球磨后金属富集体扫描电镜形貌分析 | 第38-41页 |
3.5.3 废电路板颗粒检测分析 | 第41-42页 |
3.6 浮选法制备铜富集体 | 第42-48页 |
3.6.1 捕收剂使用策略实验 | 第42-45页 |
3.6.1.1 浮选实验工艺设定 | 第42-43页 |
3.6.1.2 浮选结果分析 | 第43-45页 |
3.6.2 硫化策略实验 | 第45-48页 |
3.6.2.1 金属富集体的硫化策略 | 第45-46页 |
3.6.2.2 浮选工艺设定 | 第46页 |
3.6.2.3 浮选结果分析 | 第46-48页 |
3.7 本章小结 | 第48-49页 |
第4章 电化学法制备纯铜 | 第49-73页 |
4.1 电化学技术原理 | 第49-50页 |
4.2 电化学回收系统 | 第50-52页 |
4.2.1 电化学回收装置搭建 | 第50-51页 |
4.2.2 电化学反应系统介绍 | 第51-52页 |
4.3 电沉积实验 | 第52-71页 |
4.3.1 电沉积方法回收实验 | 第52-53页 |
4.3.2 电沉积对比实验 | 第53-65页 |
4.3.2.1 液固比对电沉积过程的影响 | 第53-56页 |
4.3.2.2 颗粒粒径对电沉积过程的影响 | 第56页 |
4.3.2.3 电沉积温度对电沉积过程的影响 | 第56-59页 |
4.3.2.4 电解液pH对电沉积过程的影响 | 第59-60页 |
4.3.2.5 阴极板对电沉积过程的影响 | 第60-62页 |
4.3.2.6 电压对电沉积过程的影响 | 第62-65页 |
4.3.3 电沉积过程 | 第65页 |
4.3.4 两种电沉积工艺对比实验 | 第65-66页 |
4.3.5 浮选法富集铜对沉积的影响实验 | 第66-69页 |
4.3.5.1 电沉积回收金属富集体实验 | 第66-68页 |
4.3.5.2 电沉积回收铜富集体实验 | 第68-69页 |
4.3.6 铜总回收率计算分析 | 第69页 |
4.3.7 电沉积过程中不同因素下电流-时间关系测定 | 第69-71页 |
4.4 本章小结 | 第71-73页 |
结论 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
致谢 | 第79页 |