摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
1.1 论文研究的背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
1.2.1 绝缘子污秽检测方法研究现状 | 第10-11页 |
1.2.2 微波辐射测量技术研究现状 | 第11-13页 |
1.3 论文的研究内容及主要工作 | 第13-14页 |
第2章 水平/垂直双通道辐射计的研制 | 第14-23页 |
2.1 微波辐射测量的基本原理 | 第14页 |
2.2 污秽物的检测原理 | 第14-16页 |
2.3 水平/垂直双通道辐射计原理框图 | 第16-19页 |
2.4 辐射计主要技术指标 | 第19页 |
2.5 双通道辐射计定标 | 第19-20页 |
2.6 辐射计参数测试 | 第20-21页 |
2.6.1 灵敏度测试 | 第20-21页 |
2.6.2 线性度测试 | 第21页 |
2.6.3 稳定度测试 | 第21页 |
2.7 辐射计说明 | 第21-22页 |
2.8 本章小结 | 第22-23页 |
第3章 XP-70 陶瓷绝缘子污秽实验 | 第23-30页 |
3.1 人工污秽的配制及测定 | 第23-24页 |
3.2 瓷绝缘子人工污秽实验 | 第24-26页 |
3.2.1 表面干燥人工污秽实验 | 第24-25页 |
3.2.2 表面湿润人工污秽实验 | 第25-26页 |
3.3 实验数据预处理与分析 | 第26-28页 |
3.3.1 干燥条件 | 第26-27页 |
3.3.2 湿润条件 | 第27-28页 |
3.4 误差分析 | 第28-29页 |
3.5 本章小结 | 第29-30页 |
第4章 复合绝缘子污秽实验 | 第30-39页 |
4.1 复合绝缘子模型 | 第30-31页 |
4.2 复合绝缘子人工污秽实验 | 第31-32页 |
4.3 不同盐密/灰密下复合绝缘子与天线温度关系 | 第32-38页 |
4.3.1 背景天空的消去 | 第32-34页 |
4.3.2 天线温度与 ESDD 的关系 | 第34-36页 |
4.3.3 天线温度与 NSDD 的关系 | 第36-37页 |
4.3.4 天线温度与 ESDD 和 NSDD 的关系 | 第37-38页 |
4.4 本章小结 | 第38-39页 |
第5章 辐射计测量绝缘子污秽系统构建 | 第39-46页 |
5.1 辐射计测量绝缘子污秽系统结构 | 第39页 |
5.2 测试方法及步骤 | 第39-40页 |
5.3 污秽等级辅助判别算法流程 | 第40-42页 |
5.4 绝缘子污秽等级判别辅助系统应用 | 第42页 |
5.5 系统的现场应用测试 | 第42-45页 |
5.6 本章小结 | 第45-46页 |
第6章 结论与展望 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-51页 |
致谢 | 第51-52页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第52页 |