| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 绝缘子污秽检测的研究方法及现状 | 第11-14页 |
| 1.2.2 微波辐射测量技术的研究与发展现状 | 第14页 |
| 1.3 论文研究的主要内容 | 第14-16页 |
| 第2章 绝缘子污秽的微波辐射特性分析 | 第16-25页 |
| 2.1 微波辐射测量原理 | 第16-19页 |
| 2.1.1 物质电磁辐射的基本概念 | 第16-17页 |
| 2.1.2 黑体、灰体及微波测量学中的温度 | 第17-19页 |
| 2.2 污秽物的复介电常数与其微波辐射特性之间的关系 | 第19-21页 |
| 2.2.1 污秽物的复介电常数 | 第19-20页 |
| 2.2.2 污秽物的微波辐射特性 | 第20-21页 |
| 2.3 绝缘子污秽微波测量方法分析 | 第21-24页 |
| 2.3.1 三层媒质模型 | 第21-22页 |
| 2.3.2 不同测量方式下绝缘子的辐射特性 | 第22-24页 |
| 2.3.3 微波辐射计的多极化测量 | 第24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 绝缘子污秽辐射的组分模型 | 第25-38页 |
| 3.1 染污绝缘子微波发射率的辐射传输模型 | 第25-28页 |
| 3.2 影响发射率的因素分析 | 第28-29页 |
| 3.2.1 绝缘子污秽程度对发射率的影响 | 第28-29页 |
| 3.2.2 入射角的影响 | 第29页 |
| 3.3 非均质表面等效温度与组分有效比辐射率模型 | 第29-35页 |
| 3.3.1 基于组分比辐射率的污秽绝缘子检测模型 | 第30-31页 |
| 3.3.2 多次散射影响下的组分比辐射率模型 | 第31页 |
| 3.3.3 包含像元外物体辐射反射的有效比辐射率的矩阵表达 | 第31-34页 |
| 3.3.4 多次散射影响下的组分比辐射率模型 | 第34-35页 |
| 3.4 测量方式和参数对测量结果的影响 | 第35-37页 |
| 3.4.1 测量方式的影响 | 第35-36页 |
| 3.4.2 温度与发射率矩阵的影响 | 第36-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 8 毫米双通道狄克辐射计的研制 | 第38-51页 |
| 4.1 理想介质中均匀平面电磁波与极化 | 第38-42页 |
| 4.1.1 理想介质中的均匀平面电磁波理论 | 第38-40页 |
| 4.1.2 平面波的极化 | 第40-42页 |
| 4.2 双通道狄克辐射计研制 | 第42-46页 |
| 4.2.1 辐射计的结构设计 | 第42-43页 |
| 4.2.2 工作频率、带宽、参考负载与前端 | 第43页 |
| 4.2.3 天线指标 | 第43-44页 |
| 4.2.4 辐射计的电源 | 第44-45页 |
| 4.2.5 指标参数 | 第45-46页 |
| 4.3 辐射计的测试与使用 | 第46-50页 |
| 4.3.1 灵敏度、线性度及稳定度的测试 | 第46-48页 |
| 4.3.2 辐射计的使用说明 | 第48-50页 |
| 4.3.3 双通道狄克辐射计的定标 | 第50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 影响复合绝缘子污秽辐射特性因素分析 | 第51-60页 |
| 5.1 复合绝缘子的人工污秽实验 | 第51-52页 |
| 5.2 人工污秽与自然污秽的等价性 | 第52-54页 |
| 5.3 人工污秽复合绝缘子的实验测量方法 | 第54页 |
| 5.4 人工污秽复合绝缘子的天线温度与环境温、湿度的关系 | 第54-58页 |
| 5.5 不同月份相对湿度与发射率的关系 | 第58-59页 |
| 5.6 本章小结 | 第59-60页 |
| 第6章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
