电涡流缺陷成像及参数估计方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-11页 |
| 1.1.1 电涡流无损检测技术 | 第8-9页 |
| 1.1.2 基于GMR的电涡流缺陷检测 | 第9-10页 |
| 1.1.3 电涡流缺陷成像技术研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2 本文的研究工作 | 第11-12页 |
| 1.3 本文的组织结构 | 第12-14页 |
| 第2章 缺陷信息提取基础研究 | 第14-21页 |
| 2.1 COMSOL仿真基础 | 第14-15页 |
| 2.2 GMR传感器检测方向研究 | 第15-18页 |
| 2.3 基于正交激励的缺陷轮廓获取方法 | 第18-21页 |
| 第3章C扫描缺陷成像及其参数估计方法 | 第21-50页 |
| 3.1 激励线圈尺寸优化 | 第21-28页 |
| 3.2 基于GMR传感器的电涡流检测平台 | 第28-30页 |
| 3.2.1 检测系统硬件电路结构 | 第28-29页 |
| 3.2.2 FPGA系统程序结构 | 第29-30页 |
| 3.3 C扫描成像实验及结果分析 | 第30-34页 |
| 3.4 缺陷平面参数估计方法 | 第34-48页 |
| 3.4.1 图像降噪 | 第35-39页 |
| 3.4.2 图像增强 | 第39-42页 |
| 3.4.3 缺陷位置估计及图像子区域提取 | 第42-43页 |
| 3.4.4 缺陷区域轮廓边缘提取 | 第43-46页 |
| 3.4.5 图像细化 | 第46-48页 |
| 3.5 实验数据缺陷参数估计性能分析 | 第48-50页 |
| 第4章 非扫描阵列GMR缺陷成像方法 | 第50-65页 |
| 4.1 基于阵列GMR传感器的探头设计 | 第50-54页 |
| 4.1.1 矩形线圈激励磁场均匀性研究 | 第51-53页 |
| 4.1.2 阵列GMR数量研究 | 第53-54页 |
| 4.2 非扫描成像实验及结果分析 | 第54-56页 |
| 4.3 图像超分辨率重建技术 | 第56-61页 |
| 4.3.1 基于插值的图像超分辨率重建 | 第56-57页 |
| 4.3.2 重建结果误差分析 | 第57-61页 |
| 4.4 实验数据重建结果性能分析 | 第61-65页 |
| 第5章 缺陷深度参数估计方法 | 第65-84页 |
| 5.1 矩形线圈激励下理想缺陷磁场正问题推导 | 第65-75页 |
| 5.1.1 理想缺陷模型 | 第65-68页 |
| 5.1.2 无缺陷激励场计算 | 第68-73页 |
| 5.1.3 平板导体中的并矢格林函数 | 第73-75页 |
| 5.2 缺陷相位信息正问题推导 | 第75-82页 |
| 5.2.1 影响相位的因素 | 第75-79页 |
| 5.2.2 涡流检测中的相位滞后 | 第79-82页 |
| 5.3 缺陷深度信息重构方法 | 第82-84页 |
| 第6章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 6.1 本文工作的总结 | 第84-85页 |
| 6.2 未来工作的展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-91页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
