| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-18页 |
| 1.1.1 偏振成像系统的应用领域 | 第10-13页 |
| 1.1.2 偏振成像技术的实现方案 | 第13-17页 |
| 1.1.3 研究意义 | 第17-18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-20页 |
| 1.3 论文的研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 偏振成像的基本原理 | 第22-44页 |
| 2.1 光波的偏振态及其描述 | 第22-35页 |
| 2.1.1 椭圆偏振光 | 第22-25页 |
| 2.1.2 Stokes矢量 | 第25-28页 |
| 2.1.3 Muller矩阵 | 第28-35页 |
| 2.2 传统的偏振成像测量方法 | 第35-41页 |
| 2.2.1 旋转偏振片测量法 | 第36-37页 |
| 2.2.2 消光测量法 | 第37-39页 |
| 2.2.3 基于傅里叶变换的旋转1/4波片测量法 | 第39-41页 |
| 2.3 本章小结 | 第41-44页 |
| 第三章 空间调制型全偏振成像方法及系统实现 | 第44-74页 |
| 3.1 空间调制型全偏振成像方法 | 第44-45页 |
| 3.2 空间调制型全偏振成像系统 | 第45-69页 |
| 3.2.1 关键器件分析 | 第46-59页 |
| 3.2.2 调制原理 | 第59-69页 |
| 3.3 解调算法 | 第69-72页 |
| 3.3.1 频域解调算法 | 第69-70页 |
| 3.3.2 空域解调算法 | 第70-72页 |
| 3.4 本章小结 | 第72-74页 |
| 第四章 空间调制型全偏振成像系统关键误差分析 | 第74-104页 |
| 4.1 系统误差来源分析 | 第74-79页 |
| 4.1.1 调制器件的非理想性误差 | 第74-77页 |
| 4.1.2 CCD面阵探测器的噪声 | 第77-78页 |
| 4.1.3 装调误差 | 第78-79页 |
| 4.2 包含装调角度误差的调制模型 | 第79-81页 |
| 4.3 装调角度误差的仿真分析和仿真结果 | 第81-101页 |
| 4.3.1 系统仿真参数选取 | 第81-82页 |
| 4.3.2 偏振测量误差的分析方法 | 第82-86页 |
| 4.3.3 旋转半波片装调角度误差的仿真结果 | 第86-90页 |
| 4.3.4 检偏器装调角度误差的仿真结果 | 第90-94页 |
| 4.3.5 耦合装调角度误差的仿真结果 | 第94-101页 |
| 4.4 本章小结 | 第101-104页 |
| 第五章 空间调制型全偏振成像系统的性能优化 | 第104-116页 |
| 5.1 矩阵的条件数 | 第104-108页 |
| 5.1.1 条件数的相关基础知识 | 第104-107页 |
| 5.1.2 扰动方程与条件数的关系 | 第107-108页 |
| 5.2 基于条件数的性能优化方法 | 第108-115页 |
| 5.2.1 Stokes参数测量误差的基矢量表示法 | 第108-111页 |
| 5.2.2 系统性能优化的仿真分析和仿真结果 | 第111-113页 |
| 5.2.3 优化方法的局限性分析 | 第113-115页 |
| 5.3 本章小结 | 第115-116页 |
| 第六章 总结与展望 | 第116-119页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第116-117页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第117-119页 |
| 参考文献 | 第119-126页 |
| 致谢 | 第126-128页 |
| 在读期间发表的论文与取得的研究成果 | 第128页 |