| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题来源及研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 高速ADC测试技术研究状况 | 第9-11页 |
| 1.3 论文的主要内容与组织结构 | 第11-12页 |
| 2 高速ADC的主要参数及测试方法 | 第12-21页 |
| 2.1 高速ADC的静态指标 | 第12-16页 |
| 2.2 静态指标测试方法 | 第16-17页 |
| 2.3 高速ADC的动态指标 | 第17-20页 |
| 2.4 动态指标测试方法 | 第20页 |
| 2.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 3 高速ADC测试相关理论及平台研究 | 第21-31页 |
| 3.1 码密度测试原理 | 第21-23页 |
| 3.2 数字频域分析理论 | 第23-28页 |
| 3.3 高速ADC测试平台 | 第28-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 4 高速ADC测试平台设计 | 第31-57页 |
| 4.1 测试电路设计 | 第31-42页 |
| 4.2 模拟输入级电路仿真 | 第42-44页 |
| 4.3 测试PCB设计 | 第44-48页 |
| 4.4 基于Cadence Allegro的关键信号仿真 | 第48-55页 |
| 4.5 测试板实物与模拟输入波形验证 | 第55-56页 |
| 4.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 性能测试与讨论 | 第57-70页 |
| 5.1 测试平台搭建 | 第57-58页 |
| 5.2 高速ADC的性能测试 | 第58-64页 |
| 5.3 影响高速ADC性能的几个因素讨论 | 第64-66页 |
| 5.4 测试结果分析 | 第66-69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 6 总结与展望 | 第70-72页 |
| 6.1 本文的总结 | 第70页 |
| 6.2 展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 附录 攻读硕士学位期间发表论文目录 | 第77页 |