| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-29页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 SiC的基本特性 | 第10-11页 |
| 1.3 一维SiC纳米材料的研究进展 | 第11-18页 |
| 1.3.1 一维SiC纳米材料的制备方法 | 第11-14页 |
| 1.3.1.1 模板法 | 第11-12页 |
| 1.3.1.2 电弧放电法 | 第12页 |
| 1.3.1.3 静电纺丝法 | 第12-13页 |
| 1.3.1.4 激光烧灼法 | 第13页 |
| 1.3.1.5 溶胶凝胶法 | 第13页 |
| 1.3.1.6 溶剂热法 | 第13页 |
| 1.3.1.7 化学气相沉积法 | 第13-14页 |
| 1.3.2 一维SiC纳米材料的应用 | 第14-18页 |
| 1.3.2.1 机械性能及在高强度材料中的应用 | 第14页 |
| 1.3.2.2 疏水性能及在自清洁方面的应用 | 第14-15页 |
| 1.3.2.3 单晶 SiC 纳米线及在场效应管方面的应用 | 第15-16页 |
| 1.3.2.4 光催化剂 | 第16-17页 |
| 1.3.2.5 光电性能及在光电子器件方面的应用 | 第17-18页 |
| 1.4 一维纳米结构光电探测器的研究基础 | 第18-28页 |
| 1.4.1 一维纳米结构光电探测器的历史及发展 | 第18-20页 |
| 1.4.2 光电探测器的工作原理及性能参数 | 第20-23页 |
| 1.4.3 一维纳米结构光电探测器的基本类型 | 第23-26页 |
| 1.4.3.1 基于单根纳米线的光探测器 | 第23页 |
| 1.4.3.2 纳米线薄膜光探测器 | 第23-24页 |
| 1.4.3.3 纳米线阵列光探测器 | 第24-26页 |
| 1.4.4 SiC基光电探测器概述 | 第26-28页 |
| 1.5 选题背景及意义 | 第28-29页 |
| 第二章 课题内容及实验方案 | 第29-34页 |
| 2.1 引言 | 第29页 |
| 2.2 实验方案 | 第29-32页 |
| 2.2.1 SiC单晶纳米线的制备及表征 | 第29-30页 |
| 2.2.2 SiC纳米线光电探测器的制备及其光电性能测试 | 第30-32页 |
| 2.2.2.1 SiC纳米线悬浮液的配制 | 第30页 |
| 2.2.2.2 微电极的制备与清洗 | 第30-31页 |
| 2.2.2.3 基于单根SiC纳米线的光电探测器的制备 | 第31页 |
| 2.2.2.4 基于SiC纳米线阵列光电探测器的制备 | 第31页 |
| 2.2.2.5 SiC纳米线光电探测器的测试 | 第31-32页 |
| 2.3 实验原料、表征方法和测试设备 | 第32-34页 |
| 2.3.1 实验原料 | 第32页 |
| 2.3.2 材料表征、分析 | 第32页 |
| 2.3.3 测试设备 | 第32-34页 |
| 第三章 基于单根 3C-SiC纳米线的光电探测器的制备工艺及性能测试 | 第34-40页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 实验结果和讨论 | 第35-39页 |
| 3.2.1 单晶SiC纳米线的结构表征与分析 | 第35-37页 |
| 3.2.1.1 XRD 分析 | 第35页 |
| 3.2.1.2 SEM 分析 | 第35-36页 |
| 3.2.1.3 TEM、HRTEM、SAED 分析 | 第36-37页 |
| 3.2.2 单根SiC纳米线的光电探测性能 | 第37-39页 |
| 3.3 小结 | 第39-40页 |
| 第四章 基于 3C-SiC纳米线薄膜的光电探测器的研制与性能探究 | 第40-47页 |
| 4.1 引言 | 第40-41页 |
| 4.2 实验方案 | 第41页 |
| 4.3 实验结果和讨论 | 第41-46页 |
| 4.3.1 SiC纳米线薄膜的紫外可见吸收光谱 | 第41-42页 |
| 4.3.2 SiC纳米线薄膜的伏安特性 | 第42-43页 |
| 4.3.3 SiC纳米线薄膜的时间响应特性 | 第43-44页 |
| 4.3.4 SiC纳米线薄膜的光电流与光功率的关系 | 第44-45页 |
| 4.3.5 SiC纳米线薄膜的光电流与温度的关系 | 第45-46页 |
| 4.4 小结 | 第46-47页 |
| 第五章 基于 3C-SiC纳米线阵列的光电探测器的研制与性能探究 | 第47-56页 |
| 5.1 引言 | 第47-48页 |
| 5.2 实验结果和讨论 | 第48-55页 |
| 5.2.1 介电泳力组装 | 第48-49页 |
| 5.2.2 基于 3C-SiC有序纳米线阵列在硬性基底的光电探测器的特性测试及结果 | 第49-51页 |
| 5.2.3 基于 3C-SiC有序纳米线阵列在柔性基底的光电探测器的特性测试及结果 | 第51-54页 |
| 5.2.4 有序纳米线阵列光电探测器与单根纳米线光电探测器的性能对比 | 第54-55页 |
| 5.3 小结 | 第55-56页 |
| 第六章 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文 | 第64页 |
