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半导体自旋霍尔效应与石墨烯一维零线模态研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 绪论第11-17页
第2章 半导体中的自旋霍尔效应第17-51页
    2.1 自旋轨道耦合第17-24页
        2.1.1 kp方法第18-20页
        2.1.2 内禀自旋轨道耦合第20-23页
        2.1.3 外禀自旋轨道耦合第23-24页
    2.2 内禀自旋霍尔效应第24-44页
        2.2.1 自旋流的定义第24-25页
        2.2.2 电子内禀自旋霍尔效应第25-38页
        2.2.3 空穴内禀自旋霍尔效应第38-44页
    2.3 外禀自旋霍尔效应第44-50页
        2.3.1 偏散射效应第44-47页
        2.3.2 侧跃效应第47-50页
    2.4 三种效应的简单比较第50-51页
第3章 密度矩阵框架下自旋霍尔效应第51-81页
    3.1 内禀自旋霍尔效应第54-63页
        3.1.1 内禀自旋霍尔效应中的散射项第54-56页
        3.1.2 动力学方程的求解第56-60页
        3.1.3 普适自旋霍尔电导与顶角修正第60-63页
    3.2 外禀侧跃自旋霍尔效应第63-68页
        3.2.1 侧跃效应的散射项第63-65页
        3.2.2 侧跃自旋霍尔电导第65-66页
        3.2.3 速度算符中的抵消效应第66-68页
    3.3 反常自旋进动第68-81页
        3.3.1 散射项的获得第71-72页
        3.3.2 动力学方程的求解第72-75页
        3.3.3 反常进动自旋霍尔电导第75-81页
第4章 双层石墨烯中的一维零线模态第81-107页
    4.1 能谷霍尔效应第81-83页
    4.2 一维零线模态第83-87页
    4.3 零线模态的手征输运第87-93页
        4.3.1 一维零线模的零弯曲阻力输运特性第88-91页
        4.3.2 杂质散射的影响第91-93页
    4.4 零线模态中器件的几何效应第93-107页
        4.4.1 极板的准直问题第93-96页
        4.4.2 零位线取向的影响第96-99页
        4.4.3 拓扑缺陷的影响第99-107页
第5章 总结与展望第107-109页
参考文献第109-115页
致谢第115-117页
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果第117页

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