| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 无扫描激光雷达的研究现状 | 第10-19页 |
| 1.2.1 基于传统 CCD 器件的无扫描激光雷达的研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 阵列 APD 器件研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 阵列 APD 成像激光雷达的研究现状 | 第13-18页 |
| 1.2.4 阵列 APD 无扫描激光雷达探测性能的研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 本文研究的主要内容 | 第19-21页 |
| 第2章 阵列 APD 无扫描激光雷达原理 | 第21-33页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 阵列 APD 器件的基本工作原理 | 第21-22页 |
| 2.3 阵列 APD 探测器的噪声特性 | 第22-26页 |
| 2.3.1 阵列 APD 探测器的暗电流和热噪声 | 第22-23页 |
| 2.3.2 阵列 APD 探测器像素间的串扰 | 第23-26页 |
| 2.4 无扫描阵列 APD 激光雷达系统的原理与设计 | 第26-27页 |
| 2.5 衍射光栅分光原理 | 第27-29页 |
| 2.6 点阵光束传输特性 | 第29-32页 |
| 2.7 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 阵列无扫描激光雷达非均匀性的影响因素 | 第33-41页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 阵列 APD 探测器光电响应特性与非均匀性的关系 | 第33-34页 |
| 3.3 光学系统产生的非均匀性 | 第34-39页 |
| 3.3.1 反射光入射角产生的非均匀性 | 第34-36页 |
| 3.3.2 渐晕产生的非均匀性 | 第36-39页 |
| 3.4 阵列 APD 探测器产生的非均匀性 | 第39-40页 |
| 3.4.1 阵列 APD 像元增益产生的非均匀性 | 第39-40页 |
| 3.4.2 阵列 APD 像元信号响应时间产生的不均匀性 | 第40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 非均匀性对阵列激光雷达性能的影响及矫正 | 第41-55页 |
| 4.1 引言 | 第41页 |
| 4.2 非均匀性对阵列 APD 激光雷达强度像的影响 | 第41-43页 |
| 4.3 强度像非均匀性的矫正 | 第43-46页 |
| 4.3.1 光学系统非均匀性的矫正 | 第43-45页 |
| 4.3.2 增益非均匀性的矫正 | 第45-46页 |
| 4.4 非均匀性对阵列 APD 激光雷达距离像的影响 | 第46-47页 |
| 4.5 距离像非均匀性的矫正 | 第47-54页 |
| 4.5.1 计时精度产生非均匀性的矫正 | 第47-49页 |
| 4.5.2 变增益对信噪比非均匀性的矫正 | 第49-54页 |
| 4.6 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 阵列 APD 无扫描激光雷达实验验证 | 第55-68页 |
| 5.1 引言 | 第55页 |
| 5.2 实验系统组成 | 第55-58页 |
| 5.3 点阵光栅照明均匀性实验研究 | 第58-60页 |
| 5.3.1 实验测试系统组成 | 第58-59页 |
| 5.3.2 实验的结果与分析 | 第59-60页 |
| 5.4 阵列 APD 无扫描激光雷达距离探测验证实验 | 第60-67页 |
| 5.4.1 阵列 APD 无扫描激光雷达实验系统 | 第60-61页 |
| 5.4.2 激光雷达的校准 | 第61-62页 |
| 5.4.3 阵列 APD 激光雷达非均匀性测试实验与分析 | 第62-65页 |
| 5.4.4 探测器增益与测距精度的关系 | 第65-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
