摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第12-28页 |
1.1 引言 | 第12-13页 |
1.2 铁电体的四种电滞回线 | 第13-17页 |
1.3 电滞回线的影响因素 | 第17-24页 |
1.4 阻抗谱和等效电路技术 | 第24-25页 |
1.5 陶瓷样品的介电与铁电测试 | 第25-26页 |
1.6 本文主要研究内容 | 第26-28页 |
第二章 钛酸锶铅陶瓷的高温介电弛豫、介电调谐与铁电钉扎效应研究 | 第28-38页 |
2.1 前言 | 第28页 |
2.2 一个模型和一个表达式 | 第28-30页 |
2.3 XRD | 第30页 |
2.4 介电调谐 | 第30-32页 |
2.5 高温介电弛豫 | 第32页 |
2.6 不同测试条件下的电滞回线 | 第32-37页 |
2.7 小结 | 第37-38页 |
第三章 掺镧钛酸铅陶瓷的高温介电弛豫、铁电储能和热释电性能研究 | 第38-45页 |
3.1 前言 | 第38-40页 |
3.2 介电性能 | 第40-43页 |
3.3 铁电储能 | 第43-44页 |
3.4 热释电性能 | 第44页 |
3.5 小结 | 第44-45页 |
第四章 掺镧和镉钛酸铅陶瓷介电异常与热释电性能研究 | 第45-51页 |
4.1 前言 | 第45-46页 |
4.2 高温介电性能 | 第46-49页 |
4.3 铁电与热电性能 | 第49-50页 |
4.4 小结 | 第50-51页 |
第五章 LaNiO_3和LaNi_(0.5)Mn_(0.5)O_3缓冲层对双钙钛矿薄膜BiNi_(0.5)Mn_(0.5)O_3的结构与电性能影响 | 第51-57页 |
5.1 前言 | 第51-52页 |
5.2 薄膜的XRD | 第52页 |
5.3 薄膜的电滞回线 | 第52-53页 |
5.4 薄膜的漏电流 | 第53-56页 |
5.5 小结 | 第56-57页 |
结论 | 第57-58页 |
参考文献 | 第58-70页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第70-72页 |
致谢 | 第72页 |