一种线性模式雪崩光电二极管的接口电路设计
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状与发展趋势 | 第10-13页 |
1.3 研究内容与设计指标 | 第13-14页 |
1.3.1 研究内容 | 第13-14页 |
1.3.2 设计指标 | 第14页 |
1.4 论文组织结构 | 第14-17页 |
第二章 微弱电流检测原理 | 第17-27页 |
2.1 InGaAs APD器件基础 | 第17-19页 |
2.1.1 APD器件工作模式 | 第17-18页 |
2.1.2 APD器件线性模式等效电路 | 第18-19页 |
2.2 电流检测接口电路系统架构 | 第19-23页 |
2.3 跨阻放大器基础 | 第23-25页 |
2.3.1 性能参数 | 第23-24页 |
2.3.2 结构类型 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-27页 |
第三章 电流检测接口电路设计 | 第27-39页 |
3.1 接口电路系统设计 | 第27-29页 |
3.2 主要模块电路设计 | 第29-37页 |
3.2.1 跨阻放大器 | 第29-33页 |
3.2.2 单转双电路 | 第33-34页 |
3.2.3 电压放大器 | 第34-37页 |
3.3 测试电路 | 第37-38页 |
3.4 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 接口电路仿真及版图设计 | 第39-55页 |
4.1 接口电路前仿真分析 | 第39-47页 |
4.1.1 直流特性参数仿真分析 | 第39-40页 |
4.1.2 交流特性参数仿真分析 | 第40-41页 |
4.1.3 瞬态分析 | 第41页 |
4.1.4 噪声参数仿真分析 | 第41-44页 |
4.1.5 系统功能仿真验证 | 第44-46页 |
4.1.6 电路的建立时间 | 第46-47页 |
4.2 测试电路仿真 | 第47-48页 |
4.3 版图设计 | 第48-53页 |
4.3.1 版图面积控制 | 第48页 |
4.3.2 版图寄生控制 | 第48-51页 |
4.3.3失调抑制 | 第51-53页 |
4.4 后仿验证 | 第53-54页 |
4.5 本章小结 | 第54-55页 |
第五章 检测电路测试与分析 | 第55-61页 |
5.1 测试平台 | 第55页 |
5.2 测试结果与分析 | 第55-60页 |
5.2.1 测试说明 | 第55-56页 |
5.2.2 功能测试验证 | 第56-57页 |
5.2.3 性能测试 | 第57-60页 |
5.2.4 测试小结 | 第60页 |
5.3 本章小结 | 第60-61页 |
第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
6.1 总结 | 第61-62页 |
6.2 展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
致谢 | 第67页 |