| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-23页 |
| ·研究背景、目的及意义 | 第10-11页 |
| ·研究状况 | 第11-20页 |
| ·~(232)Th(n,f)反应 | 第12-15页 |
| ·~(232)Th(n,2n)反应 | 第15-19页 |
| ·次临界能源堆概念设计中的238U中子积分实验 | 第19-20页 |
| ·研究内容与成果 | 第20-23页 |
| ·研究内容 | 第20-21页 |
| ·研究结果 | 第21-22页 |
| ·创新与进步 | 第22-23页 |
| 第二章 实验原理与模拟计算方法 | 第23-28页 |
| ·实验原理 | 第23-25页 |
| ·模拟计算方法 | 第25-27页 |
| ·模拟计算程序 | 第25页 |
| ·数据库的选择 | 第25-26页 |
| ·并行计算 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 实验装置与仪器 | 第28-39页 |
| ·实验装置 | 第28-32页 |
| ·基于贫铀球壳的钍样品装置 | 第28-29页 |
| ·氧化钍/贫铀圆饼组合装置 | 第29-30页 |
| ·天然铀分解模拟装置 | 第30-32页 |
| ·D-T中子源 | 第32-34页 |
| ·靶室与中子产额监测方法 | 第32-33页 |
| ·伴随α粒子谱分析 | 第33-34页 |
| ·HPGe探测器与效率刻度 | 第34-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 ~(232)Th(n,f)反应率测量与分析 | 第39-54页 |
| ·测量原理 | 第39-41页 |
| ·实验过程与影响因素 | 第41-45页 |
| ·探测器效率刻度 | 第41-42页 |
| ·自吸收修正因子测定 | 第42-43页 |
| ·样品本底分析 | 第43-45页 |
| ·实验不确定度分析 | 第45页 |
| ·实验结果 | 第45-50页 |
| ·基于贫铀球壳的钍样品装置 | 第45-46页 |
| ·氧化钍/贫铀圆饼组合装置 | 第46-50页 |
| ·模拟计算与分析 | 第50-53页 |
| ·基于贫铀球壳的钍样品装置 | 第50页 |
| ·氧化钍/贫铀圆饼组合装置 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 ~(232)Th(n,2n)反应率测量与分析 | 第54-61页 |
| ·测量原理 | 第54页 |
| ·实验过程与影响因素 | 第54-56页 |
| ·探测器效率刻度 | 第55页 |
| ·自吸收修正因子测定 | 第55页 |
| ·样品本底分析 | 第55-56页 |
| ·实验不确定度分析 | 第56页 |
| ·实验结果 | 第56-58页 |
| ·基于贫铀球壳的钍样品装置 | 第56-57页 |
| ·氧化钍/贫铀圆饼组合装置 | 第57-58页 |
| ·模拟计算与分析 | 第58-60页 |
| ·基于贫铀球壳的钍样品装置 | 第58页 |
| ·氧化钍/贫铀圆饼组合装置 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 天然铀分解模拟装置中~(238)U俘获反应率的测量与分析 | 第61-68页 |
| ·测量原理 | 第61页 |
| ·实验过程及影响因素 | 第61-64页 |
| ·天然铀箔片对277.6keV特征γ射线的自吸收修正 | 第61-62页 |
| ·HPGe探测器对环形天然铀箔片效率刻度 | 第62页 |
| ·中子产额瞬态修正 | 第62-63页 |
| ·HPGe探测器测量活化片的277.6keVγ射线计数 | 第63-64页 |
| ·实验结果 | 第64页 |
| ·模拟计算与分析 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第七章 结束语 | 第68-70页 |
| ·工作总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-79页 |
| 附录 | 第79页 |
