基于脉冲漏磁的无损检测研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-12页 |
第一章 绪论 | 第12-16页 |
·研究背景及意义 | 第12-13页 |
·国内外发展状况 | 第13-14页 |
·国外研究现状 | 第13页 |
·国内研究现状 | 第13-14页 |
·脉冲漏磁无损检测技术优势 | 第14-15页 |
·论文章节安排 | 第15-16页 |
第二章 脉冲漏磁技术原理及仿真研究 | 第16-33页 |
·脉冲漏磁技术原理 | 第16-20页 |
·漏磁检测技术 | 第16-17页 |
·缺陷漏磁场的理论分析 | 第17-19页 |
·脉冲漏磁检测技术 | 第19-20页 |
·有限元仿真研究 | 第20-32页 |
·有限元模型的建立 | 第21-22页 |
·脉冲漏磁缺陷信号的影响因素分析 | 第22-26页 |
·缺陷漏磁场与缺陷之间关系的仿真分析 | 第26-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第三章 脉冲漏磁实验系统设计及实现 | 第33-42页 |
·脉冲漏磁阵列检测系统总体框架 | 第33页 |
·检测探头设计 | 第33-37页 |
·传感器选择 | 第34-36页 |
·阵列设计 | 第36-37页 |
·脉冲激励信号源设计 | 第37-40页 |
·设计方案 | 第37-38页 |
·脉冲信号产生电路设计 | 第38-39页 |
·功率放大电路设计 | 第39-40页 |
·信号调理模块设计 | 第40-41页 |
·数据采集模块设计 | 第41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第四章 信号特征提取及检测程序 | 第42-57页 |
·信号消噪处理 | 第42-46页 |
·经典数字滤波 | 第42-43页 |
·小波滤波 | 第43-46页 |
·信号特征值提取 | 第46-50页 |
·脉冲漏磁信号的差分处理 | 第46-47页 |
·Hx 分量的特征提取 | 第47-48页 |
·Hy 分量的特征提取 | 第48-50页 |
·检测程序 | 第50-56页 |
·脉冲激励源设置程序 | 第51-53页 |
·缺陷检测程序 | 第53-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 脉冲漏磁检测实验结果及分析 | 第57-72页 |
·主要试件类型 | 第57-58页 |
·激励参数设置 | 第58-61页 |
·激励频率 | 第59-60页 |
·占空比 | 第60页 |
·激励电流 | 第60-61页 |
·实验结果分析 | 第61-69页 |
·时域特征值分析 | 第64-66页 |
·频域特征值分析 | 第66-67页 |
·主成分分析 | 第67-69页 |
·脉冲漏磁动态实验检测 | 第69-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
·全文总结 | 第72页 |
·展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第79-80页 |
附录 1 脉冲激励源实物图 | 第80-81页 |
附录 2 信号调理电路实物图 | 第81页 |