基于图像处理的印刷电路板缺陷检测技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第9-11页 |
| ·研究的背景 | 第9-10页 |
| ·研究的意义 | 第10-11页 |
| ·检测技术现状 | 第11-12页 |
| ·研究的目的和内容 | 第12-15页 |
| ·研究目的 | 第12-13页 |
| ·研究内容和章节安排 | 第13-15页 |
| 2 PCB 检测系统方案 | 第15-29页 |
| ·检测系统概述 | 第15-17页 |
| ·工业检测与控制系统简介 | 第15-16页 |
| ·PCB 检测系统结构 | 第16-17页 |
| ·检测系统硬件平台 | 第17-22页 |
| ·硬件系统结构 | 第17-18页 |
| ·图像自动采集单元介绍 | 第18-19页 |
| ·照明单元介绍 | 第19-20页 |
| ·运动控制单元介绍 | 第20-22页 |
| ·检测系统软件结构及工作流程 | 第22-27页 |
| ·软件开发环境与编程模式 | 第22-23页 |
| ·软件设计背景和思路 | 第23-24页 |
| ·软件系统结构 | 第24-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 3 标准图恢复和标准图库构建 | 第29-33页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·标准数据读取和特征提取 | 第29-32页 |
| ·标准数据格式及规则 | 第29-31页 |
| ·特征数据提取和分析 | 第31-32页 |
| ·标准图像恢复和入库 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 4 待测图像预处理 | 第33-51页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·图像增强 | 第34-42页 |
| ·空间域灰度变换 | 第34-35页 |
| ·灰度自动变换测试分析 | 第35页 |
| ·空间域图像平滑 | 第35-41页 |
| ·图像平滑测试对比分析 | 第41-42页 |
| ·图像分割 | 第42-49页 |
| ·获取直方图 | 第43页 |
| ·基于直方图的双峰法 | 第43-44页 |
| ·基于直方图的P_title 阈值分割法 | 第44-45页 |
| ·基于直方图的最大内间方差分割法 | 第45-46页 |
| ·基于直方图的最大熵分割法 | 第46页 |
| ·基于直方图的P_title 动态极小值分割法 | 第46-47页 |
| ·图像分割测试对比分析 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 5 图像配准 | 第51-57页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·模板匹配原理 | 第51-52页 |
| ·改进模板匹配 | 第52-54页 |
| ·改进相关法一—改进归一化互相关法 | 第53页 |
| ·改进绝对差和互相关法—二次计数法 | 第53-54页 |
| ·改进序贯相似性检测模板匹配法 | 第54-55页 |
| ·算法原理 | 第54-55页 |
| ·算法改进 | 第55页 |
| ·图像配准测试对比分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 6 图像对比与后处理 | 第57-63页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·图像对比 | 第57页 |
| ·对比后处理 | 第57-60页 |
| ·小区域消除法 | 第58页 |
| ·形态学开运算原理 | 第58-59页 |
| ·改进开运算快速去噪处理 | 第59-60页 |
| ·三种方法去噪效果和耗时对比 | 第60页 |
| ·图像对比和去噪测试分析 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 7 缺陷识别和特征统计 | 第63-71页 |
| ·引言 | 第63页 |
| ·缺陷标记 | 第63-64页 |
| ·改进八连通标记法 | 第63页 |
| ·标记测试 | 第63-64页 |
| ·缺陷特征统计和分类识别 | 第64-68页 |
| ·模式识别概念、过程和方法 | 第64-65页 |
| ·印制板标准 | 第65页 |
| ·缺陷特征统计和逐级分类缺陷识别法 | 第65-68页 |
| ·特征参数统计和缺陷识别测试 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 8 优化方案及实验结果分析 | 第71-80页 |
| ·缺陷检出优化方案 | 第71-74页 |
| ·缺陷检出的四种方案 | 第71-72页 |
| ·四种缺陷检出方案耗时和效果统计分析 | 第72-74页 |
| ·实验结果及分析 | 第74-78页 |
| ·实验条件 | 第74页 |
| ·检出和统计识别实例 | 第74-77页 |
| ·实验结果分析 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 9 结论与展望 | 第80-82页 |
| ·主要结论 | 第80-81页 |
| ·后续工作的展望 | 第81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 附录 | 第88页 |
