基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题背景 | 第10-16页 |
| ·可测试性问题简介 | 第10页 |
| ·测试的发展动态 | 第10-13页 |
| ·嵌入式存储器测试方法现状 | 第13-16页 |
| ·课题的意义及本文的主要工作 | 第16-17页 |
| ·课题的意义 | 第16页 |
| ·本文的主要工作 | 第16-17页 |
| 第2章 可测性设计技术 | 第17-31页 |
| ·测试技术 | 第17-22页 |
| ·测试基本概念 | 第17-18页 |
| ·常用的可测试性方法 | 第18-19页 |
| ·几种DFT方案的比较 | 第19-20页 |
| ·DFT技术的应用方法与策略 | 第20-22页 |
| ·BIST的测试方法 | 第22-30页 |
| ·BIST的来源 | 第22-24页 |
| ·BIST的结构 | 第24-25页 |
| ·BIST的分类 | 第25-27页 |
| ·BIST的优点 | 第27-28页 |
| ·BIST的缺点和代价 | 第28-29页 |
| ·BIST的研究现状 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 嵌入式存储器的内建自测试技术 | 第31-38页 |
| ·嵌入式存储器的BIST技术概述 | 第31-32页 |
| ·典型的存储器功能故障模型 | 第32-34页 |
| ·存储单元阵列功能故障 | 第33页 |
| ·地址译码电路功能故障 | 第33-34页 |
| ·读/写逻辑电路功能故障 | 第34页 |
| ·嵌入式存储器测试算法分析 | 第34-37页 |
| ·MBIST构成与工作原理 | 第34-35页 |
| ·常用的MBIST测试算法 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 一种改进型的嵌入式存储器测试算法 | 第38-48页 |
| ·MARCH算法概述 | 第38-39页 |
| ·MARCH算法演变 | 第39-45页 |
| ·ATS和改进的ATS算法(MATS) | 第39-40页 |
| ·March A和March B算法 | 第40页 |
| ·March C算法 | 第40-41页 |
| ·March C+算法 | 第41页 |
| ·March C-算法 | 第41-43页 |
| ·March—TB算法 | 第43-45页 |
| ·一种改进型MARCH算法——MARCH-TBA | 第45-47页 |
| ·March-TBA算法的思想 | 第45-47页 |
| ·March-TBA算法故障覆盖率 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 算法实现及实验统计数据分析 | 第48-55页 |
| ·EDA仿真技术介绍 | 第48-51页 |
| ·EDA设计技术 | 第48-50页 |
| ·Modelsim简介及在电路测试中的应用 | 第50-51页 |
| ·算法实现结构 | 第51-53页 |
| ·算法实现BIST电路结构 | 第51-52页 |
| ·算法实现的并行内建自测试结构 | 第52-53页 |
| ·实验结果 | 第53-54页 |
| ·实验系统的建立 | 第53页 |
| ·实验结果及分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
