| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-27页 |
| ·磁电阻效应的研究概况 | 第10-11页 |
| ·自旋阀效应的研究概况 | 第11-17页 |
| ·磁性多层膜的巨磁电阻（GMR）效应 | 第11-15页 |
| ·隧道巨磁阻效应（TMR） | 第15-16页 |
| ·半金属磁性材料的特性及在自选阀中的应用 | 第16-17页 |
| ·钙钛矿结构锰氧化物的晶体结构，电子特征及磁性特征 | 第17-23页 |
| ·晶体结构 | 第17-19页 |
| ·电子特征 | 第19-20页 |
| ·磁性结构 | 第20-23页 |
| ·钙钛矿锰基氧化物的输运特性 | 第23-26页 |
| ·电荷有序化 | 第23-24页 |
| ·晶界磁电阻 | 第24-26页 |
| ·论文选题的目的和主要研究内容 | 第26-27页 |
| 2 薄膜制备工艺的探索 | 第27-34页 |
| ·样品制备工艺 | 第27-30页 |
| ·溶胶－凝胶法的化学原理 | 第27-29页 |
| ·溶胶－凝胶法制备前驱溶液工艺 | 第29-30页 |
| ·薄膜制备 | 第30-32页 |
| ·La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3 薄膜制备 | 第30-31页 |
| ·La_(0.67)（Cd_xSr_(1-x)）_(0.33)MnO_3 薄膜制备 | 第31-32页 |
| ·样品微观形貌、晶体结构、电和磁输运性能测试 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 3 LA_(0.67)SR_(0.33)MNO_3 薄膜的研究 | 第34-43页 |
| ·不同预处理温度对薄膜电性质的影响 | 第34-38页 |
| ·样品结构的XRD 表征 | 第34-38页 |
| ·快速600 ℃ 、650 ℃ 退火和常规800 ℃ 退火对薄膜的影响 | 第38-42页 |
| ·不同退火方式对薄膜结构的影响 | 第38-40页 |
| ·不同退火温度对薄膜磁电阻的影响 | 第40-42页 |
| ·本章小节 | 第42-43页 |
| 4 LA_(0.67)（CD_XSR_(1-X)）_(0.33)MNO_3薄膜研究 | 第43-52页 |
| ·LA_(0.67)（CD_XSR_(1-X)）_(0.33)MNO_3 薄膜材料的结构分析 | 第44-46页 |
| ·LA_(0.67)（CD_XSR_(1-X)）_(0.33)MNO_3 薄膜材料电输运行为 | 第46-48页 |
| ·LA_(0.67)（CD_XSR_(1-X)）_(0.33)MNO_3 薄膜材料磁性测量 | 第48-51页 |
| ·振动样品磁强计(VSM) 工作原理 | 第48-50页 |
| ·磁性测量结果与讨论 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 5 全文总结 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间发表和完成的论文目录 | 第60页 |
