| 摘要 | 第1-16页 |
| ABSTRACT | 第16-18页 |
| 第一章 绪论 | 第18-29页 |
| ·课题的来源和意义 | 第18-22页 |
| ·管道缺陷的起因及其危害分析 | 第18-19页 |
| ·无损检测在管道日常维护和安全保障中的应用 | 第19-21页 |
| ·远场涡流应用于铁磁性管道无损检测的优势 | 第21-22页 |
| ·远场涡流技术的发展历史和研究动态 | 第22-26页 |
| ·远场涡流技术发展历史 | 第22-23页 |
| ·远场涡流技术国内外研究动态 | 第23-24页 |
| ·远场涡流技术的研究热点 | 第24-26页 |
| ·本文主要研究内容及总体框架 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第二章 远场涡流无损检测技术的理论背景 | 第29-42页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·涡流检测中的基本电磁理论 | 第29-32页 |
| ·麦克斯韦方程组 | 第29-30页 |
| ·涡流检测基本原理 | 第30-32页 |
| ·远场涡流效应的电磁机理解释 | 第32-34页 |
| ·基于波导模式的远场涡流机理解释 | 第32-33页 |
| ·基于电磁扩散的远场涡流机理解释 | 第33页 |
| ·基于扩散能量流和似波现象的远场涡流机理解释 | 第33-34页 |
| ·电磁场数值仿真的基本方法 | 第34-36页 |
| ·电磁场数值计算方法概述 | 第35页 |
| ·有限元方法的基本描述 | 第35-36页 |
| ·有限元方法在远场涡流中的应用 | 第36-40页 |
| ·远场涡流基本现象的仿真 | 第37-38页 |
| ·远场涡流与常规涡流的仿真结果对比 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第三章 不同走向裂纹的有限元仿真与实验研究 | 第42-66页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·不同走向裂纹的实验结果与分析 | 第42-45页 |
| ·不同走向裂纹的三维有限元仿真 | 第45-52页 |
| ·远场结构下三维有限元仿真可行性分析 | 第46-47页 |
| ·不同走向裂纹的三维有限元仿真 | 第47-52页 |
| ·远场涡流中的缺陷等效源模型 | 第52-56页 |
| ·涡流扰动的缺陷等效源模型 | 第52-53页 |
| ·磁场扰动的缺陷等效源模型 | 第53-54页 |
| ·基于缺陷等效源模型的仿真和实验验证 | 第54-56页 |
| ·检测灵敏度与裂纹宽度之间的关系 | 第56-60页 |
| ·不同宽度裂纹的有限元仿真分析 | 第56-58页 |
| ·基于高阶散射源的响应信号与裂纹宽度关系的定性解释 | 第58-60页 |
| ·细小轴向裂纹的三维有限元仿真研究 | 第60-65页 |
| ·单次透射情况下的细小裂纹缺陷仿真分析 | 第60-62页 |
| ·基于集肤公式的远场涡流信号分析 | 第62-63页 |
| ·基于集肤公式的细小裂纹等效有限元仿真模型及其验证 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第四章 铁磁性管道中轴向裂纹检测灵敏度的改善方法研究 | 第66-89页 |
| ·引言 | 第66-67页 |
| ·基于正交磁场分量激励的远场涡流原理与仿真 | 第67-73页 |
| ·具有两路正交磁场分量的激励场原理分析 | 第67-69页 |
| ·两路正交磁场分量激励的远场涡流有限元仿真 | 第69-70页 |
| ·正交磁场激励时的远场涡流效应 | 第70-71页 |
| ·正交磁场激励下不同走向裂纹检测灵敏度分析 | 第71-73页 |
| ·正交磁场激励的远场涡流检测系统实现 | 第73-80页 |
| ·正交磁场激励的传感器设计 | 第73-76页 |
| ·检测系统参数设置与选择依据 | 第76-79页 |
| ·正交信号源与信号调理电路 | 第79-80页 |
| ·基于正交分量激励的不同类型缺陷检测 | 第80-88页 |
| ·基于正交分量激励和轴向差分线圈的检测结果与分析 | 第81-83页 |
| ·基于正交分量激励和绝对式线圈的实验结果分析 | 第83-85页 |
| ·基于正交分量激励时对其它类型缺陷的检测结果 | 第85-88页 |
| ·本章小结 | 第88-89页 |
| 第五章 独立分量分析技术在消除磁导率不均匀影响中的应用 | 第89-117页 |
| ·引言 | 第89页 |
| ·磁导率不均匀对缺陷检测信号的影响分析 | 第89-93页 |
| ·磁导率不均匀信号与缺陷信号的扰动场分析 | 第90-91页 |
| ·磁导率不均匀对缺陷检测信号的影响 | 第91-93页 |
| ·基于缺陷等效源和叠加定理的扰动场分析 | 第93-96页 |
| ·独立分量分析技术概述 | 第96-101页 |
| ·独立分量分析技术简要概述 | 第96-97页 |
| ·独立分量分析模型与数学描述 | 第97-101页 |
| ·磁导率不均匀信号与缺陷信号分离的仿真研究 | 第101-110页 |
| ·远场涡流中的传感器阵列技术 | 第101-102页 |
| ·基于幅值和相位信号的分离方法 | 第102-104页 |
| ·基于实部和虚部信号的分离方法 | 第104-106页 |
| ·传感器信号数目大于源信号数目时的分离效果分析 | 第106-108页 |
| ·存在噪声情况下的分离效果分析 | 第108-110页 |
| ·基于独立分量分析技术的分离方法的实验验证 | 第110-116页 |
| ·传感器阵列实验结果分析 | 第110-111页 |
| ·基于独立分量分析的磁导率不均匀与缺陷信号分离 | 第111-114页 |
| ·消除磁导率不均匀影响后的缺陷信号分析 | 第114-116页 |
| ·本章小结 | 第116-117页 |
| 第六章 管道内外壁缺陷分类识别技术研究 | 第117-137页 |
| ·引言 | 第117页 |
| ·管道内外壁缺陷的远场涡流响应信号分析 | 第117-119页 |
| ·基于脉冲激励的内外壁全周向缺陷分类识别 | 第119-121页 |
| ·基于脉冲激励的内外壁轴向裂纹分类识别 | 第121-135页 |
| ·脉冲激励时内外壁轴向裂纹检测信号对比 | 第121-122页 |
| ·不同检测线圈位置处的检测信号分析 | 第122-126页 |
| ·脉冲激励下检测线圈信号的频域分析 | 第126-129页 |
| ·基于双频技术的内外壁轴向裂纹分类识别 | 第129-131页 |
| ·基于预去重技术的内外壁轴向裂纹分类识别 | 第131-135页 |
| ·本章小结 | 第135-137页 |
| 第七章 结束语 | 第137-140页 |
| ·主要研究成果和结论 | 第137-138页 |
| ·工作展望 | 第138-140页 |
| 致谢 | 第140-141页 |
| 参考文献 | 第141-154页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第154页 |
