| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-32页 |
| ·红外隐身材料概述 | 第12-15页 |
| ·红外隐身材料的研究进展 | 第12-14页 |
| ·红外隐身针对的主要波段 | 第14页 |
| ·中、远红外隐身涂层原理 | 第14-15页 |
| ·红外辐射机理 | 第15-18页 |
| ·颜料发射率研究 | 第18-30页 |
| ·发射率的定义和分类 | 第18页 |
| ·颜料发射率一般规律 | 第18-24页 |
| ·发射率影响因素 | 第24-30页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第30-32页 |
| 第二章 基于正交实验的硫化物颜料的制备及红外发射率研究 | 第32-47页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·正交实验 | 第32-34页 |
| ·粉体制备与测试 | 第34-35页 |
| ·原料及仪器 | 第34-35页 |
| ·制备过程 | 第35页 |
| ·测试与表征 | 第35页 |
| ·结果与讨论 | 第35-46页 |
| ·热处理温度对8～14μm 波段红外发射率的影响 | 第35-39页 |
| ·CdS/ZnS 配比对8～14μm 波段红外发射率的影响 | 第39-42页 |
| ·样品红外发射率与波长的关系 | 第42-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第三章 半导体硫化物颜料的优化制备及红外发射率比较研究 | 第47-64页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·实验 | 第47-49页 |
| ·原料及仪器 | 第47-48页 |
| ·制备过程 | 第48页 |
| ·测试与表征 | 第48-49页 |
| ·结果与讨论 | 第49-56页 |
| ·X 射线衍射分析(XRD) | 第49-50页 |
| ·粉体的扫描电镜分析(SEM) | 第50-51页 |
| ·粉体的透射电镜分析(TEM) | 第51页 |
| ·红外吸收光谱分析(IR) | 第51-53页 |
| ·红外发射率分析 | 第53-56页 |
| ·两种固相法的比较分析 | 第56-57页 |
| ·固溶体与单一化合物比较分析 | 第57-63页 |
| ·粉体的扫描电镜分析(SEM) | 第58-59页 |
| ·红外吸收光谱分析(IR) | 第59-60页 |
| ·红外发射率分析 | 第60页 |
| ·粉体的荧光光谱分析(PL) | 第60-63页 |
| ·小结 | 第63-64页 |
| 第四章 导电性能对红外发射率的影响 | 第64-70页 |
| ·引言 | 第64-65页 |
| ·不同热处理温度下样品的电导性能与红外发射率分析 | 第65-67页 |
| ·样品的制备与测试 | 第65页 |
| ·样品的导电性能分析 | 第65-66页 |
| ·样品的红外发射率分析 | 第66-67页 |
| ·不同掺杂浓度样品的电导性能与红外发射率分析 | 第67-70页 |
| ·样品的制备与测试 | 第67-68页 |
| ·样品的导电性能分析 | 第68-69页 |
| ·样品的红外发射率分析 | 第69-70页 |
| 第五章 总结与展望 | 第70-73页 |
| ·本文工作总结及主要结论 | 第70-71页 |
| ·工作展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的主要论文 | 第80页 |
