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STAR-06T数控综合实验台的研制与开发

中文摘要第1-6页
Abstract第6-7页
致谢第7-12页
第一章 绪论第12-20页
 1.1 数控机床的产生、特点及发展第12-15页
  1.1.1 数控技术的基本概念及发展历程第12页
  1.1.2 数控机床的产生、特点和发展趋势第12-14页
  1.1.3 数控机床对国民经济的影响第14-15页
 1.2 我国数控机床基本概况第15页
 1.3 我国数控人才的状况分析第15-18页
  1.3.1 数控技术人才的类型第16-17页
  1.3.2 我国数控技术人才的培养模式第17页
  1.3.3 我国数控技术人才状况第17-18页
 1.4 数控实验实训设备现状分析第18-19页
 1.5 课题来源、主要内容及意义第19-20页
第二章 STAR—06T数控综合实验台总体设计第20-32页
 2.1 数控机床的组成与工作原理第20-21页
 2.2 STAR—06T数控综合实验台设计思想第21页
 2.3 STAR—06T数控综合实验台数控系统的选用与配置第21-26页
  2.3.1 数控系统类型的确定第21-23页
  2.3.2 数控系统的硬件配置第23-24页
  2.3.3 数控系统的连接第24-26页
 2.4 STAR—06T数控综合实验台的总体设计第26-28页
 2.5 STAR—06T数控综合实验台的电路设计和抗干扰措施第28-32页
  2.5.1 STAR—06T数控综合实验台的强电电路设计第28页
  2.5.2 STAR—06T数控综合实验台的抗干扰措施第28-32页
第三章 STAR—06T数控综合试验台的参数调试与功能开发第32-49页
 3.1 STAR—06T数控综合试验台功能参数的设定第32-33页
  3.1.1 FANUC 0i Mate-TC系统的功能参数的分类第32页
  3.1.2 系统功能参数设定方法第32-33页
  3.1.3 系统参数的保持及备份第33页
 3.2 PMC程序的编制第33-36页
  3.2.1 数控机床PLC概述第33-34页
  3.2.2 STAR—06T数控综合实验台PMC程序的编制第34-36页
 3.3 STAR—06T数控综合实验台电气故障点的设置第36-40页
  3.3.1 STAR—06T数控综合实验台I/O地址分配第36-38页
  3.3.2 STAR—06T数控综合实验台电气故障点的设置第38-40页
 3.4 STAR—06T数控综合实验台的操作与功能第40-49页
  3.4.1 STAR—06T数控综合实验台的操作第40-42页
  3.4.2 STAR—06T数控综合实验台的功能第42-43页
  3.4.3 STAR—06T数控综合实验台的实验项目设计第43-49页
第四章 STAR—06T数控综合实验台局域网的设计分析第49-61页
 4.1 计算机网络技术的产生、发展及分类第49-51页
  4.1.1 计算机网络技术的产生与发展第49页
  4.1.2 计算机网络的分类第49-51页
 4.2 基于网络的STAR—06T数控综合实验台开发的意义第51-53页
  4.2.1 计算机网络的功能第51页
  4.2.2 计算机网络在制造业中的应用第51-52页
  4.2.3 基于网络的STAR—06T数控综合实验台开发的意义第52-53页
 4.3 STAR—06T数控综合实验台局域网的设计分析第53-57页
  4.3.1 局域网拓扑结构的选择第53-55页
  4.3.2 局域网传输介质及硬、软件设备的选择第55-57页
  4.3.3 数控实验室局域网总体设计第57页
 4.4 STAR—06T数控综合实验台与PC机的数据传输第57-61页
  4.4.1 STAR—06T数控综合实验台与PC机的通讯第57-58页
  4.4.2 PC机经局域网与STAR—06T数控综合实验台的连接与通讯第58-61页
第五章 总结与展望第61-63页
 5.1 总结第61页
 5.2 展望第61-63页
参考文献第63-66页
读研期间公开发表的论文第66页

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