| 摘要 | 第1-6页 |
| 第一章：绪论 | 第6-11页 |
| §1-1 论文的意义 | 第6页 |
| §1-2 光偏振态检测现状 | 第6-8页 |
| §1-3 偏振图像采集的应用 | 第8-9页 |
| §1-4 论文的工作与结构 | 第9-11页 |
| 第二章：偏振光的表征 | 第11-21页 |
| §2-1 偏振光的基本理论 | 第11-12页 |
| §2-2 偏振光参数的表征与测量 | 第12-19页 |
| §2-2-1 琼斯矢量法 | 第12-13页 |
| §2-2-2 斯托克斯参数 | 第13-14页 |
| §2-2-3 斯托克斯参数的测量 | 第14-16页 |
| §2-2-4 邦加球作图法 | 第16-18页 |
| §2-2-5 米勒矩阵 | 第18-19页 |
| §2-3 本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章：偏振光的识别算法和检测装置 | 第21-27页 |
| §3-1 光的偏振态的识别算法 | 第21-25页 |
| §3-2 偏振图象采集装置 | 第25-26页 |
| §3-3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章：PLZT材料的特性与测试 | 第27-41页 |
| §4-1 电光效应以及电光材料 | 第27-28页 |
| §4-2 透明铁电陶瓷材料 | 第28-29页 |
| §4-3 PLZT材料的基本特性 | 第29-33页 |
| §4-3-1 PLZT材料简介 | 第29-30页 |
| §4-3-2 PLZT材料的透光性 | 第30-31页 |
| §4-3-3 PLZT材料的电光特性 | 第31-33页 |
| §4-4 PLZT材料的电光特性测试 | 第33-40页 |
| §4-4-1 PLZT电光特性的测量方法 | 第33-34页 |
| §4-4-2 PLZT材料特性的测量结果与分析 | 第34-40页 |
| §4-5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章：硬件实现 | 第41-65页 |
| §5-1 硬件电路的实现方案 | 第41-48页 |
| §5-1-1 硬件电路的总体构架 | 第41-42页 |
| §5-1-2 具体芯片的选取 | 第42-48页 |
| §5-1-2-1 视频解码芯片SAA7111 | 第42-46页 |
| §5-1-2-2 数模转换芯片THS8134 | 第46-48页 |
| §5-2 FPGA的实现 | 第48-64页 |
| §5-2-1 FPGA | 第48-49页 |
| §5-2-2 对SAA7111的控制模块 | 第49-59页 |
| §5-2-2-1 IIC总线的介绍 | 第49-54页 |
| §5-2-2-2 SAA7111的初始化 | 第54-55页 |
| §5-2-2-3 利用VHDL语言实现对SAA7111的控制 | 第55-59页 |
| §5-2-3 对THS8134的控制模块 | 第59-61页 |
| §5-2-3-1 THS8134的控制信号介绍 | 第59-60页 |
| §5-2-3-2 利用VHDL语言实现对THS8134的控制 | 第60-61页 |
| §5-2-4 对象素点实现操作 | 第61-64页 |
| §5-3 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章：偏振图像的分析 | 第65-70页 |
| 第七章：总结与展望 | 第70-72页 |
| §7-1 总结 | 第70页 |
| §7-2 展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 附件 | 第75-85页 |
| 致谢 | 第85页 |