| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-15页 |
| §1．1 光谱测试仪器的发展 | 第6-14页 |
| 1、光谱仪器概述 | 第6-7页 |
| 2、光谱仪器的发展 | 第7-10页 |
| 3、光谱仪器的应用 | 第10-11页 |
| 4、发展趋势 | 第11-14页 |
| §1．2 本论文课题的主要内容及其研究意义 | 第14-15页 |
| 第二章 多通道光谱测试系统原理 | 第15-38页 |
| §2．1 凹面衍射光栅原理 | 第15-20页 |
| 1、凹面光栅的种类 | 第15页 |
| 2、凹面光栅的工作原理 | 第15-18页 |
| 3、凹面光栅光谱的一些特性 | 第18-19页 |
| 4、变栅距光栅的原理 | 第19-20页 |
| §2．2 凹面衍射光栅成像系统 | 第20-30页 |
| 1、罗兰成像系统 | 第21页 |
| 2、艾伯尼成像系统 | 第21-22页 |
| 3、巴森—隆成像系统 | 第22-23页 |
| 4、依格尔成像系统 | 第23-24页 |
| 5、垂直入射成像系统 | 第24-26页 |
| 6、径向成像系统 | 第26页 |
| 7、掠入成像系统 | 第26-27页 |
| 8、谢亚—那米欧卡(Seya-Namioka)成像系统 | 第27-28页 |
| 9、欧那卡(Onaka)成像系统 | 第28-29页 |
| 10、沃茨握尔成像系统 | 第29-30页 |
| §2．3 光谱测试应用中的一些光色度参数 | 第30-33页 |
| 1、光谱分布、峰值波长、光谱带宽和质心波长 | 第30-31页 |
| 2、光通量 | 第31页 |
| 3、色品坐标、亮度、主波长、色纯度 | 第31-33页 |
| 4、色温和显色指数 | 第33页 |
| §2．4 多通道光谱测试常用探测器 | 第33-38页 |
| 1、电荷耦合器件(CCD) | 第34-35页 |
| 2、电荷注入器件(CID) | 第35-36页 |
| 3、MOS图像传感器(CMOS／NMOS) | 第36-38页 |
| 第三章 多通道快速光谱测试系统设计方案 | 第38-59页 |
| §3．1 系统的总体结构 | 第38页 |
| §3．2 光学系统 | 第38-40页 |
| 1、光栅 | 第38-39页 |
| 2、光学系统结构 | 第39-40页 |
| §3．3 多通道探测器 | 第40-43页 |
| 1、多通道检测器的特性比较 | 第40-41页 |
| 2、选用原则 | 第41-42页 |
| 3、NMOS | 第42-43页 |
| §3．4 电子电路系统 | 第43-49页 |
| §3．5 软件系统 | 第49-59页 |
| 1、软件设计 | 第49-52页 |
| 2、软件对系统的定标 | 第52-59页 |
| 第四章 多通道快速光谱测试系统的试验和应用 | 第59-72页 |
| §4．1 系统的性能指标试验 | 第59-64页 |
| 1、波长准确度与波长重复性 | 第59页 |
| 2、线色散率 | 第59页 |
| 3、分辨率 | 第59-64页 |
| 4、杂散光 | 第64页 |
| §4．2 系统的应用 | 第64-72页 |
| 第五章 多通道快速光谱测试系统总结和展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 研究生期间发表的论文 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |