包覆法制备BaTiO3基陶瓷电容器研究
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第9-34页 |
·概述 | 第9-19页 |
·选题背景 | 第9-10页 |
·电容器的相关知识 | 第10-12页 |
·边界层陶瓷电容器(GBBLC) | 第12-16页 |
·钛酸钡系电子陶瓷的发展过程以及制备方法 | 第16-19页 |
·包覆技术 | 第19-24页 |
·表面改性技术 | 第19-21页 |
·液相包覆技术 | 第21-23页 |
·陶瓷包覆技术现状 | 第23-24页 |
·相关概念与参数介绍 | 第24-32页 |
·相关概念的介绍 | 第24-26页 |
·相关参数的介绍 | 第26-32页 |
·实验工作的确立 | 第32-34页 |
·实验方案 | 第32-33页 |
·技术路线 | 第33-34页 |
第二章 粉体的性能测试 | 第34-48页 |
·原料性能表征和相关实验设备 | 第34-36页 |
·粉体显微结构分析 | 第36-37页 |
·X射线衍射分析(XRD) | 第37-41页 |
·粒度分析 | 第41-43页 |
·基本知识 | 第41-42页 |
·样品制备 | 第42-43页 |
·包覆粉体热力学分析 | 第43-48页 |
·热分析的基本知识 | 第43-45页 |
·结果分析 | 第45-48页 |
第三章 边界层型半导体陶瓷电容器的烧结工艺 | 第48-55页 |
第四章 分析与讨论 | 第55-76页 |
·样品的致密性分析 | 第55-62页 |
·B_2O_3掺杂对样品致密性的影响 | 第55-57页 |
·MnO_2掺杂对样品致密性的影响 | 第57-60页 |
·Cr_2O_3掺杂对样品致密性的影响 | 第60-62页 |
·样品的电性能分析 | 第62-75页 |
·加入B_2O_3样品的相关电性能分析 | 第62-65页 |
·加入MnO_2样品的相关电性能分析 | 第65-67页 |
·加入Cr_2O_3样品的相关电性能分析 | 第67-70页 |
·样品的介电温谱分析 | 第70页 |
·样品的阻抗谱分析 | 第70-75页 |
·样品的显微结构 | 第75-76页 |
第五章 结论 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第82-83页 |
致谢 | 第83页 |