| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| ·磁电阻(MR)效应的研究进展 | 第8-9页 |
| ·MR效应的发现 | 第8页 |
| ·磁电阻材料的特点 | 第8-9页 |
| ·磁电阻效应的应用和来源 | 第9-13页 |
| ·磁电阻效应的应用 | 第9-11页 |
| ·磁电阻效应的来源 | 第11-13页 |
| ·坡莫合金磁电阻效应的研究状况 | 第13-16页 |
| ·坡莫合金的研究概况 | 第14-15页 |
| ·坡莫合金的应用及传感器的原理 | 第15-16页 |
| ·本文的目的和意义 | 第16-19页 |
| ·本文的目的和意义 | 第16-18页 |
| ·本文拟研究的内容 | 第18-19页 |
| 第二章 样品的制备 | 第19-26页 |
| ·直流磁控测射法 | 第19-22页 |
| ·样品制备方法的选择 | 第19-20页 |
| ·直流磁控溅射技术的原理 | 第20-22页 |
| ·样品的制备 | 第22-26页 |
| ·定标 | 第23-24页 |
| ·样品的制备 | 第24-26页 |
| 第三章 样品性能的测试与分析 | 第26-37页 |
| ·样品微结构的测量和颗粒大小的计算 | 第26-30页 |
| ·X-衍射参数表 | 第26-27页 |
| ·X-衍射图谱 | 第27-29页 |
| ·样品颗粒大小的计算 | 第29-30页 |
| ·定标时种子层中Nb原子百分含量的测量 | 第30页 |
| ·样品的磁电阻的测试与分析 | 第30-33页 |
| ·测量仪器及测试过程 | 第30-31页 |
| ·测试结果及分析 | 第31-33页 |
| ·样品磁滞回线的测量 | 第33-37页 |
| ·测量装置及其原理 | 第33-34页 |
| ·测量及其结果 | 第34-36页 |
| ·颗粒大小对样品磁滞回线的影响 | 第36-37页 |
| 第四章 种子层NiFeNb对坡莫合金电阻率和磁电阻的影响 | 第37-54页 |
| ·种子层中Nb原子百分含量对坡莫合金电阻率和磁电阻的影响 | 第37-43页 |
| ·电阻率随种子层中Nb含量的变化 | 第37-40页 |
| ·磁电阻随种子层中Nb含量的变化 | 第40-43页 |
| ·种子层对不同厚度坡莫合金电阻率和MR的影响 | 第43-46页 |
| ·电阻率随NiFe厚度的变化 | 第44-45页 |
| ·磁电阻NiFe厚度的变化 | 第45-46页 |
| ·种子层厚度对坡莫合金电阻率和磁电阻的影响 | 第46-50页 |
| ·电阻率随种子层厚度的变化 | 第47-48页 |
| ·磁电阻随种子层厚度的变化 | 第48-50页 |
| ·退火处理对坡莫合金电阻率和磁电阻的影响 | 第50-53页 |
| ·退火处理对电阻率的影响 | 第50-51页 |
| ·退火处理对磁电阻的影响 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 NiFeNb种子层影响坡莫合金磁滞回线的微观机理的探讨 | 第54-59页 |
| ·小粒子表面能的计算 | 第54-55页 |
| ·表面粗糙度对薄膜微粒粒径分布的影响 | 第55-56页 |
| ·影响薄膜表面粗糙度的因素 | 第56-57页 |
| ·种子层对坡莫合金磁滞回线的影响 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 结束语 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士期间的学校和工作情况 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
