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GaN基材料的欧姆接触及相关器件研究

中文摘要第1-5页
英文摘要第5-8页
第一章 引言第8-11页
第二章 文献综述第11-27页
 2.1 Ⅲ族氮化物的物理性质第11-15页
 2.2 GaN材料的制备方法第15-18页
  2.2.1 GaN体单晶生长第15页
  2.2.2 GaN外延生长技术第15-18页
 2.3 GaN材料的掺杂第18-19页
 2.4 GaN材料的器件应用第19-26页
  2.4.1 微电子应用第19-22页
  2.4.2 光电子应用第22-26页
 2.5 立题思路和意义第26-27页
第三章 金属与GaN的欧姆接触第27-44页
 3.1 引言第27-30页
 3.2 欧姆接触率测试原理和方法第30-34页
 3.3 标准器件工艺和lift-off工艺第34-39页
 3.4 n-GaN欧姆接触电阻率定量研究实验第39-43页
 3.5 结论第43-44页
第四章 AlGaN肖特基二极管的初步研究第44-58页
 4.1 引言第44-47页
 4.2 实验过程第47-49页
 4.3 器件性能与分析第49-57页
  4.3.1 二极管的Ⅰ—Ⅴ特性第49-52页
  4.3.2 退火后二极管的Ⅰ—Ⅴ特性第52-54页
  4.3.3 AlGaN肖特基二极管势垒高度的表征和计算第54-57页
 4.4 结论第57-58页
第五章 多晶GaN材料的生长第58-67页
 5.1 GaN外延生长系统第58-60页
  5.1.1 热蒸发设备第58-59页
  5.1.2 氨气氮化设备第59-60页
 5.2 多晶GaN生长工艺第60页
 5.3 测试结果与分析第60-66页
  5.3.1 X射线衍射分析第60-63页
  5.3.2 紫外光吸收光谱分析第63-65页
  5.3.3 多晶GaN扫描电子显微分析第65-66页
 5.4 实验结论第66-67页
第六章 结论第67-68页
参考文献第68-73页
致谢第73-74页
硕士期间发表和已投的文章第74页

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