首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--自动化技术及设备论文--自动化系统论文--自动控制、自动控制系统论文

通用动载荷实验装置的研制

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-12页
第一章 绪论第12-18页
   ·课题的研究背景第12页
   ·动载荷实验装置第12-14页
     ·加载装置第12-13页
     ·电阻应变仪第13-14页
   ·国内外发展现状第14-16页
   ·课题的研究内容第16-18页
第二章 动载荷实验装置的总体方案设计第18-25页
   ·引言第18页
   ·应变测试原理第18-20页
     ·电阻应变片的工作原理第18-19页
     ·电阻应变片的测量电路第19-20页
   ·系统总体结构第20-21页
   ·动荷系统的方案设计第21-24页
   ·系统设计主要技术指标第24-25页
第三章 基于ARM 动荷装置的嵌入式硬件设计第25-42页
   ·引言第25页
   ·ARM 微处理器概述第25-26页
     ·ARM7 系列微处理器特点第25-26页
     ·ARM 微处理器的应用选型第26页
   ·基于LPC2210 微处理器的系统主控制器设计第26-38页
     ·LPC2210 微处理器简介第26-27页
     ·基于LPC2210 的系统主控制器硬件平台体系结构第27-28页
     ·存储器扩展模块第28-29页
     ·USB 接口模块第29-33页
     ·电机驱动模块第33-35页
     ·外围通用模块第35-37页
       ·电源电路第35-36页
       ·系统时钟电路第36页
       ·调试与测试接口第36-37页
     ·其他部分第37-38页
   ·系统测量单元的硬件设计第38-42页
     ·ADS1258 介绍第38-39页
     ·传感器信号采集电路设计第39-41页
     ·参考电源以及供桥电路设计第41-42页
第四章 装置端系统软件设计第42-68页
   ·引言第42页
   ·嵌入式实时操作系统μC/OS-II 及其移植第42-45页
     ·嵌入式操作系统μC/OS-II 简介第42-43页
       ·任务第42-43页
       ·任务调度第43页
       ·μC/OS-II 中的中断处理第43页
     ·μC/OS-II 的移植第43-45页
   ·ARM 主控制器的软件规划设计第45-47页
   ·USB 系统软件设计第47-59页
     ·USB 协议介绍第48-51页
       ·USB 系统构成第48页
       ·USB 设备的枚举过程第48-50页
       ·USB 总线传输协议第50-51页
     ·USB 固件程序的软件编制第51-59页
   ·AD 数据采集软件设计第59-65页
     ·ADS1258 通信协议介绍第59-61页
     ·LPC2210 SPI 模块介绍第61-62页
     ·数据采集软件编制第62-65页
   ·直流电机控制软件设计第65-68页
     ·LPC2210 PWM 模块介绍第65-66页
     ·电机控制软件编制第66-68页
第五章 上位机PC 端系统软件设计第68-86页
   ·引言第68页
   ·Windows 2000/XP 下WDM 驱动程序模型第68-70页
     ·DriverWorks 驱动开发工具介绍第68页
     ·WDM 驱动程序介绍第68-69页
     ·WDM 设备驱动程序结构第69-70页
       ·驱动程序入口点和回调例程第69页
       ·创建设备第69页
       ·IRP 处理第69-70页
       ·即插即用第70页
     ·应用程序对WDM 的通信第70页
   ·Windows XP 下USB 驱动程序开发第70-82页
     ·USB 驱动模型第71页
       ·USB 驱动模型介绍第71页
       ·USB 编程类函数第71页
     ·USB 驱动程序开发平台的搭建第71-72页
     ·利用DriverWorks 进行USB 驱动程序的开发第72-82页
   ·上位机应用软件的编制第82-83页
   ·数据处理与分析第83-86页
第六章 实测数据分析第86-89页
 1.修正校准实验第86-87页
 2.周期动态应变测试实验第87-89页
第七章 课题总结与展望第89-90页
参考文献第90-92页
致谢第92-93页
攻读硕士学位期间发表的主要论文第93页

论文共93页,点击 下载论文
上一篇:基于混沌遗传算法的布拉格光栅非均匀应变分布重构研究
下一篇:基于ARM的材料试验机测试系统的研究与开发