| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状综述 | 第11-13页 |
| ·信号可互换简介 | 第13-16页 |
| ·面向信号测试系统描述 | 第13-15页 |
| ·信号可互换测试软件 | 第15-16页 |
| ·本课题的主要研究内容 | 第16页 |
| ·论文结构 | 第16-18页 |
| 第2章 面向信号测试系统描述 | 第18-42页 |
| ·概述 | 第18-20页 |
| ·IEEE1641 标准 | 第20-25页 |
| ·IEEE1641 标准层状模型 | 第20-21页 |
| ·IEEE1641 基本信号组件 | 第21-24页 |
| ·IEEE1641 基本信号组件的组合机制 | 第24-25页 |
| ·ATML 标准 | 第25-33页 |
| ·Test Description 标准 | 第27-29页 |
| ·Instrument Description 标准 | 第29-30页 |
| ·UUT Description 标准 | 第30-31页 |
| ·Test Station 标准 | 第31-33页 |
| ·Test Results 标准 | 第33页 |
| ·使用IEEE1641 与ATML 实现面向信号测试系统描述 | 第33-41页 |
| ·面向信号测试描述 | 第33-37页 |
| ·面向信号仪器描述 | 第37-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 信号可互换测试软件 | 第42-50页 |
| ·信号可互换实现方案 | 第42-43页 |
| ·信号可互换测试软件需求分析 | 第43-48页 |
| ·信号可互换测试软件功能概述 | 第43-44页 |
| ·信号可互换测试软件各模块设计 | 第44-48页 |
| ·使用信号可互换虚拟仪器技术完成测试任务的流程 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 ATML EE 的设计与实现 | 第50-68页 |
| ·IVI 配置库管理模块设计与实现 | 第50-55页 |
| ·IVI 配置库管理器 | 第51-52页 |
| ·IviHardwareAsset 添加器 | 第52-53页 |
| ·IviSession 添加器 | 第53-54页 |
| ·IviLogicalName 添加器 | 第54页 |
| ·节点删除器 | 第54-55页 |
| ·可视化ATML 描述模块设计与实现 | 第55-56页 |
| ·ATML 翻译器模块 | 第56-65页 |
| ·仪器资源分配交互界面 | 第59-61页 |
| ·OperationSetup 类 | 第61页 |
| ·OperationConnect 类 | 第61-62页 |
| ·OperationRead 类 | 第62-63页 |
| ·OperationCompare 类 | 第63页 |
| ·OperationDisconnect 类 | 第63-64页 |
| ·完成所有测试步骤的翻译 | 第64-65页 |
| ·测试结果查看模块 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 ATML EE 的验证 | 第68-77页 |
| ·ATML EE 各模块功能验证 | 第68-72页 |
| ·IVI 配置库管理模块功能验证 | 第68-70页 |
| ·可视化ATML 描述模块验证 | 第70-71页 |
| ·ATML 翻译器模块验证 | 第71页 |
| ·测试结果查看模块验证 | 第71-72页 |
| ·互换性验证 | 第72-75页 |
| ·测试系统结构A | 第72-73页 |
| ·测试系统结构B | 第73页 |
| ·测试系统结构C | 第73-74页 |
| ·测试系统结构D | 第74-75页 |
| ·测试过程中遇到的问题及解决措施 | 第75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85页 |