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Ⅰ.Cu薄膜与机械研磨处理Fe表面的腐蚀与扩散行为研究 Ⅱ.X-65钢表面高性能复合涂层缺陷处的局部腐蚀行为研究

摘要第1-11页
Abstract第11-15页
第一部分 Cu薄膜与机械研磨处理Fe表面的腐蚀与扩散行为研究第15-108页
 前言第15-18页
 第一章 研究背景与文献综述第18-42页
   ·引言第18-19页
   ·纳米材料的制备方法第19-25页
     ·制备方法分类第19-20页
     ·物理气相沉积(PVD)第20-21页
     ·表面机制研磨处理(SMAT)第21-22页
     ·混合表面纳米化第22-25页
   ·扩散基本原理第25-31页
     ·扩散的宏观规律第25-26页
     ·扩散的热力学分析第26-28页
     ·扩散的微观机制第28-30页
     ·Arrhenius定律与扩散系数的影响因素第30页
     ·反应扩散第30-31页
   ·腐蚀基本原理第31-36页
     ·腐蚀基础知识第31-32页
     ·腐蚀类型及特征第32-34页
     ·金属氧化过程的一般描述第34-36页
   ·相关工作的研究现状第36-41页
     ·金属薄膜体系的氧化传质研究现状第36-38页
     ·表面纳米化金属的腐蚀与扩散相关研究第38-41页
   ·问题的提出及本文的工作第41页
   ·本章小结第41-42页
 第二章 Cu薄膜的制备与结构性能表征第42-53页
   ·引言第42页
   ·金属薄膜的制备方法(真空蒸发法)第42-44页
     ·真空蒸发设备第42-44页
     ·薄膜厚度控制第44页
   ·薄膜表面形貌表征方法(AFM)第44-47页
   ·薄膜表面结构和成分表征方法(XRD)第47-48页
   ·薄膜氧化传质过程表征方法第48-52页
     ·方块电阻法第49-51页
     ·透射光谱法第51-52页
   ·本章小结第52-53页
 第三章 Cu薄膜的氧化传质动力学行为及机制研究第53-65页
   ·引言第53-54页
   ·氧化试验和动力学规律曲线第54-60页
     ·薄膜条件下的氧化传质行为第54-57页
     ·厚膜条件下的氧化实验和传质动力学行为第57-59页
     ·扩散激活能和微观扩散机制第59-60页
   ·Cu膜氧化传质模型建立和理论分析第60-64页
     ·极薄膜氧化型的建立第60-64页
     ·厚膜氧化动力学及扩散机制讨论第64页
   ·本章小结第64-65页
 第四章 表面机械研磨纯Fe的制备与结构性能表征第65-74页
   ·引言第65页
   ·样品制备第65-68页
     ·原始材料及其表面纳米化处理第65-66页
     ·SMAT纯Fe上镀Al及扩散处理第66页
     ·SMAT纯Fe表面的低温固体粉末渗铝第66-68页
   ·组织结构表征第68-71页
     ·XRD分析第68页
     ·SEM形貌观察和EDX成分测量第68页
     ·氢脆法第68-71页
   ·性能测试第71-73页
     ·电化学腐蚀性能测试第71-72页
     ·二次离子质谱仪(SIMS)测试第72-73页
   ·本章小结第73-74页
 第五章 SMAT处理对纯Fe腐蚀性能的影响第74-90页
   ·引言第74页
   ·纯Fe经SMAT处理前后的组织结构及腐蚀性能变化第74-82页
     ·纯Fe经SMAT处理前后的组织结构表征第74-77页
     ·纯Fe经SMAT处理前后的腐蚀性能测试第77-82页
   ·316不锈钢经SMAT处理前后的组织结构及腐蚀性能变化第82-87页
     ·316不锈钢经SMAT处理前后的组织结构表征第82-85页
     ·316不锈钢经SMAT处理前后的腐蚀性能第85-87页
   ·SMAT处理对纯Fe及不锈钢样品腐蚀行为影响的讨论第87-89页
   ·本章小结第89-90页
 第六章 SMAT纯Fe的低温渗铝行为及渗层的腐蚀行为研究第90-105页
   ·引言第90页
   ·Al在SMAT纯Fe中的低温扩散行为研究第90-97页
   ·SMAT纯Fe的固体粉末渗铝及其对腐蚀性能的影响第97-104页
   ·本章小结第104-105页
 第七章 第一部分总结第105-108页
第二部分 X-65钢表面高性能复合涂层缺陷处的局部腐蚀行为研究第108-126页
 第八章 X-65钢表面高性能复合涂层缺陷处的局部腐蚀行为研究第108-126页
   ·引言第108-109页
   ·实验方法及基本原理第109-112页
     ·样品与测试溶液第109-110页
     ·传统电化学阻抗谱(EIS)测量第110页
     ·微区电化学阻抗谱(LEIS)测量第110-112页
   ·X-65钢在涂层缺陷处的局部电化学阻抗谱(LEIS)研究第112-121页
     ·200 μm 尺寸缺陷处的LEIS测量结果第112-114页
     ·1000 μm尺寸缺陷处的LEIS测量结果第114-116页
     ·涂层完整处的LEIS测量结果第116-117页
     ·涂层缺陷区域的LEIS扫描图第117-118页
     ·对整个工作电极扫描所得的传统EIS测量结果第118-121页
   ·分析与讨论第121-124页
     ·涂层缺陷的尺寸对管线钢局部腐蚀行为的影响第121-123页
     ·涂层完整处的局部电化学阻抗谱行为第123-124页
     ·与传统的电化学阻抗谱结果的比较第124页
   ·本章小结第124-126页
参考文献第126-143页
附录第143-145页
 博士期间论文、专利情况第143-144页
 获奖情况第144-145页
后记第145-146页

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