| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·IGBT 器件热学特性的研究现状 | 第10页 |
| ·IGBT 器件建模的研究现状 | 第10-11页 |
| ·器件的物理可靠性研究现状 | 第11-12页 |
| ·器件的概率可靠性研究现状 | 第12页 |
| ·本文研究内容 | 第12-14页 |
| 2 IGBT 器件的结构、特性及失效机理 | 第14-23页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·IGBT 器件的基本结构及原理 | 第14-16页 |
| ·IGBT 的失效机理 | 第16-22页 |
| ·开关速度 | 第16-19页 |
| ·阈值电压 | 第19-20页 |
| ·通态压降 | 第20-21页 |
| ·泄漏电流 | 第21页 |
| ·擎住效应 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 3 IGBT 的动态电气模型及参数敏感性分析 | 第23-40页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·IGBT 器件的等效电路 | 第23-25页 |
| ·模型参数的提取 | 第25-33页 |
| ·栅极电容C_(ge)、C_(ox) 的提取 | 第25-28页 |
| ·栅极内阻R_g 的提取 | 第28-29页 |
| ·MOSFET、BJT 参数的提取 | 第29-31页 |
| ·P 井区横向电阻Rs 的提取 | 第31页 |
| ·剩余载流子寿命τ_(HL) 的提取 | 第31-33页 |
| ·仿真与实验验证 | 第33-35页 |
| ·IGBT 动态电气模型的一个应用——参数敏感性研究 | 第35-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 基于栅极动态电压的 IGBT 可靠性模型 | 第40-48页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·平稳工况下IGBT 的动态特性 | 第40-43页 |
| ·非平稳工况下IGBT 的动态特性 | 第43-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 IGBT 的离线可靠性评估 | 第48-58页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·器件可靠性的数学表征 | 第48-49页 |
| ·IGBT 老化失效模型 | 第49-50页 |
| ·IGBT 发生老化失效的概率 | 第49-50页 |
| ·老化失效引起的不可用率 | 第50页 |
| ·老化失效模型中的参数估计 | 第50-53页 |
| ·算例分析 | 第53-56页 |
| ·参数估计 | 第53-54页 |
| ·回归诊断 | 第54-55页 |
| ·对提出的平均寿命估计方法的评述 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 6 结论与后续工作展望 | 第58-60页 |
| ·论文主要结论 | 第58-59页 |
| ·后续工作展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 附录：作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第65页 |