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X射线探测与前端处理模块测试系统开发研究

中文摘要第1-4页
英文摘要第4-8页
1 绪论第8-12页
   ·课题背景及意义第8页
   ·课题研究现状第8-10页
   ·课题研究内容第10-12页
2 工业 CT 探测模块与前端电子处理模块第12-22页
   ·工业CT 基本原理第12-15页
     ·工业CT 检测原理第12-14页
     ·工业CT 发展概况第14-15页
   ·X 射线探测与前端电子处理模块简介第15-22页
     ·探测模块第15-18页
     ·前端电子处理模块第18-22页
3 测试系统方案设计第22-30页
   ·系统方案设计第22-25页
     ·系统需求第22-23页
     ·系统方案设计第23-25页
   ·USB 技术分析第25-27页
     ·USB 概述第25页
     ·USB 系统第25-26页
     ·USB 数据传输类型第26页
     ·USB 总线的枚举第26-27页
   ·FPGA 技术分析第27-30页
     ·可编程逻辑器件概述第27页
     ·FPGA 结构原理第27-30页
4 测试系统硬件设计第30-44页
   ·系统硬件总体方案设计第30页
   ·主要器件特性第30-33页
     ·CY7C68013A 芯片第30-33页
     ·可编程逻辑器件EP1C6T144C8N第33页
   ·硬件电路设计第33-44页
     ·FPGA 模块电路设计第33-37页
     ·USB 模块电路设计第37-39页
     ·FPGA 与USB 互连设计第39-40页
     ·其它外围电路设计第40-44页
5 测试系统软件设计第44-70页
   ·FPGA 数字逻辑设计第44-59页
     ·FPGA 开发语言及流程第44-47页
     ·FPGA 逻辑软件框架第47-48页
     ·USB 接口模块第48-50页
     ·命令解析模块第50-52页
     ·DDC232 配置模块第52-55页
     ·数据采集模块第55-56页
     ·数据存储模块第56-59页
   ·USB2.0 程序及上位机程序设计第59-70页
     ·USB2.0 固件程序设计第59-62页
     ·USB2.0 驱动程序设计第62-64页
     ·上位机程序设计第64-70页
6 系统测试第70-76页
   ·系统传输速度测试第70-72页
   ·系统可靠性测试第72-74页
   ·系统联调结果第74-76页
7 总结与展望第76-78页
   ·论文总结第76页
   ·项目展望第76-78页
致谢第78-80页
参考文献第80-84页
附录第84页
 A 作者在攻读学位期间发表的论文目录第84页
 B 测试系统硬件实物图第84页

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