铁磁性材料缺陷磁记忆信号特征研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第15-27页 |
| 1.1 课题来源、研究目的和意义 | 第15-16页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第15页 |
| 1.1.2 研究目的和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 金属磁记忆研究现状 | 第16-24页 |
| 1.2.1 金属磁记忆技术 | 第16页 |
| 1.2.2 铁磁性材料及分类 | 第16-17页 |
| 1.2.3 磁畴 | 第17-19页 |
| 1.2.4 磁场强度与应力集中 | 第19-20页 |
| 1.2.5 缺陷漏磁场研究 | 第20-21页 |
| 1.2.6 力-磁效应试验研究 | 第21-22页 |
| 1.2.7 焊接裂纹磁记忆试验研究 | 第22-23页 |
| 1.2.8 磁记忆技术标准制定 | 第23页 |
| 1.2.9 问题提出 | 第23-24页 |
| 1.3 研究目标、内容及技术路线 | 第24-26页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第24页 |
| 1.3.2 研究内容 | 第24-25页 |
| 1.3.3 技术路线 | 第25-26页 |
| 1.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第二章 典型缺陷磁场计算 | 第27-51页 |
| 2.1 裂纹 | 第27-28页 |
| 2.1.1 基本类型 | 第27-28页 |
| 2.1.2 裂纹规则化处理 | 第28页 |
| 2.2 含缺陷承压筒体应力计算 | 第28-32页 |
| 2.2.1 材料损伤系数 | 第29-30页 |
| 2.2.2 含缺陷承压筒体损伤应力 | 第30-32页 |
| 2.3 应力-磁导率关系 | 第32-33页 |
| 2.4 圆孔缺陷磁场 | 第33-37页 |
| 2.4.1 缺陷漏磁场 | 第33-34页 |
| 2.4.2 缺陷边缘磁场 | 第34-37页 |
| 2.5 凹槽缺陷漏磁场 | 第37-43页 |
| 2.5.1 表面凹槽缺陷磁场 | 第37-39页 |
| 2.5.2 埋藏缺陷磁场 | 第39-43页 |
| 2.6 裂纹顶端磁场 | 第43-50页 |
| 2.6.1 弹性变形区磁场 | 第43-46页 |
| 2.6.2 临界磁场强度 | 第46-48页 |
| 2.6.3 塑性变形区磁场 | 第48-50页 |
| 2.7 本章小结 | 第50-51页 |
| 第三章 圆孔缺陷磁记忆信号研究 | 第51-71页 |
| 3.1 检测过程影响因素 | 第51-56页 |
| 3.1.1 试验设计 | 第51-53页 |
| 3.1.2 检测方位确定 | 第53-54页 |
| 3.1.3 检测提离值选取 | 第54-56页 |
| 3.2 MMFP与缺陷尺寸定量关系研究 | 第56-62页 |
| 3.2.1 试验设计 | 第56-57页 |
| 3.2.2 MMFP与缺陷直径定量研究 | 第57-60页 |
| 3.2.3 缺陷力磁效应研究 | 第60-62页 |
| 3.3 缺陷磁导率 | 第62-66页 |
| 3.3.1 磁感应线折射原理 | 第63-64页 |
| 3.3.2 磁性缺陷 | 第64-66页 |
| 3.3.3 非磁性缺陷 | 第66页 |
| 3.4 缺陷磁场识别参数确定 | 第66-69页 |
| 3.4.1 缺陷位置识别 | 第67-68页 |
| 3.4.2 缺陷尺度量化 | 第68-69页 |
| 3.4.3 应力集中程度识别 | 第69页 |
| 3.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第四章 凹槽缺陷磁记忆信号研究 | 第71-94页 |
| 4.1 试验设计 | 第71-72页 |
| 4.2 缺陷宽度对MMFP的影响 | 第72-74页 |
| 4.2.1 试验结果 | 第72-73页 |
| 4.2.2 试验结果分析 | 第73-74页 |
| 4.3 缺陷深度对MMFP的影响 | 第74-76页 |
| 4.3.1 试验结果 | 第74-75页 |
| 4.3.2 试验结果分析 | 第75-76页 |
| 4.4 加载过程磁记忆信号特征 | 第76-84页 |
| 4.4.1 加载初期 | 第76-77页 |
| 4.4.2 加载中期 | 第77-79页 |
| 4.4.3 临界断裂阶段 | 第79-80页 |
| 4.4.4 加载各阶段MMFP对比 | 第80-82页 |
| 4.4.5 断裂后磁场参数 | 第82-84页 |
| 4.5 埋藏缺陷MMFP试验研究 | 第84-88页 |
| 4.6 埋藏缺陷反演 | 第88-92页 |
| 4.6.1 缺陷深度反演 | 第88-89页 |
| 4.6.2 缺陷宽度反演 | 第89-91页 |
| 4.6.3 磁荷密度对磁场的影响 | 第91-92页 |
| 4.7 本章小结 | 第92-94页 |
| 第五章 焊接缺陷磁记忆信号研究 | 第94-112页 |
| 5.1 焊接缺陷 | 第94-99页 |
| 5.1.1 试验设计 | 第94-95页 |
| 5.1.2 试验结果分析 | 第95-96页 |
| 5.1.3 磁场参数计算 | 第96-98页 |
| 5.1.4 焊接缺陷识别 | 第98-99页 |
| 5.2 焊接裂纹 | 第99-108页 |
| 5.2.1 试验设计 | 第99-102页 |
| 5.2.2 试验结果分析 | 第102-108页 |
| 5.3 外载对裂纹MMFP的影响 | 第108-111页 |
| 5.3.1 试验设计 | 第108页 |
| 5.3.2 试验结果 | 第108-109页 |
| 5.3.3 分析与讨论 | 第109-111页 |
| 5.4 本章小结 | 第111-112页 |
| 第六章 热处理对缺陷MMFP影响研究 | 第112-127页 |
| 6.1 试验设计 | 第112-113页 |
| 6.1.1 试样选用 | 第112页 |
| 6.1.2 试验步骤 | 第112-113页 |
| 6.2 热处理对圆孔缺陷MMFP的影响 | 第113-115页 |
| 6.2.1 热处理前磁场 | 第113页 |
| 6.2.2 热处理后磁场 | 第113-115页 |
| 6.3 加载对圆孔缺陷MMFP的影响 | 第115-118页 |
| 6.4 热处理对凹槽缺陷MMFP的影响 | 第118-121页 |
| 6.5 热处理对裂纹MMFP的影响 | 第121-124页 |
| 6.6 热处理对加载过程MMFP的影响 | 第124-125页 |
| 6.7 本章小结 | 第125-127页 |
| 第七章 结论与展望 | 第127-129页 |
| 7.1 结论 | 第127-128页 |
| 7.2 展望 | 第128-129页 |
| 参考文献 | 第129-141页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第141-142页 |
| 致谢 | 第142-144页 |
| 作者简介 | 第144页 |
