中文摘要 | 第4-6页 |
英文摘要 | 第6-11页 |
第1章 引言 | 第11-15页 |
1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外的研究现状 | 第12-13页 |
1.3 论文研究内容和工作 | 第13-14页 |
1.4 论文章节安排 | 第14-15页 |
第2章 中子发生器的结构和原理 | 第15-18页 |
2.1 中子发生器整体结构 | 第15页 |
2.2 中子管结构及原理 | 第15-16页 |
2.2.1 储存器 | 第16页 |
2.2.2 离子源 | 第16页 |
2.2.3 加速极 | 第16页 |
2.2.4 靶 | 第16页 |
2.3 中子发生器控制系统 | 第16-17页 |
2.3.1 中子发生器控制台 | 第17页 |
2.3.2 储存器电源 | 第17页 |
2.3.3 离子源电源 | 第17页 |
2.3.4 加速极电源 | 第17页 |
2.4 本章小结 | 第17-18页 |
第3章 中子发生器控制台硬件设计 | 第18-35页 |
3.1 控制台硬件整体设计 | 第18页 |
3.2 核心控制板的设计 | 第18-23页 |
3.2.1 核心板芯片选型 | 第19-20页 |
3.2.2 核心板供电设计 | 第20页 |
3.2.3 核心板最小系统设计 | 第20-21页 |
3.2.4 核心板PWM电路设计 | 第21页 |
3.2.5 核心板通信电路设计 | 第21-23页 |
3.3 驱动采样板的设计 | 第23-29页 |
3.3.1 驱动采样板供电设计 | 第24页 |
3.3.2 高速光耦开关电路 | 第24-25页 |
3.3.3 PWM转 DA电路 | 第25-26页 |
3.3.4 电压电流采集电路 | 第26-27页 |
3.3.5 分压电路 | 第27-29页 |
3.4 三路电源设计思路 | 第29-31页 |
3.4.1 储存器电源 | 第29页 |
3.4.2 离子源电源 | 第29-30页 |
3.4.3 加速极电源 | 第30-31页 |
3.5 控制台机械设计 | 第31-34页 |
3.5.1 控制台结构设计 | 第31页 |
3.5.2 加速极支架设计 | 第31-32页 |
3.5.3 同步脉冲隔离设计 | 第32-33页 |
3.5.4 雕刻机参数配置 | 第33-34页 |
3.6 本章小结 | 第34-35页 |
第4章 基于DSP/BIOS的控制台软件设计 | 第35-60页 |
4.1 DSP/BIOS介绍 | 第35-39页 |
4.1.1 CCS5.5 集成开发环境 | 第35-36页 |
4.1.2 DSP/BIOS组件 | 第36-37页 |
4.1.3 DSP/BIOS启动顺序 | 第37页 |
4.1.4 DSP/BIOS中的线程 | 第37-38页 |
4.1.5 DSP/BIOS线程调度 | 第38-39页 |
4.2 DSP/BIOS配置文件 | 第39-44页 |
4.2.1 全局设置(GBL) | 第39-40页 |
4.2.2 内存段设置(MEM) | 第40页 |
4.2.3 日志模块(LOG) | 第40-41页 |
4.2.4 时间函数(CLK) | 第41页 |
4.2.5 周期函数(PRD) | 第41-42页 |
4.2.6 硬件中断(HWI) | 第42页 |
4.2.7 软件中断(SWI) | 第42-43页 |
4.2.8 任务(TASK) | 第43-44页 |
4.2.9 邮箱(MBX) | 第44页 |
4.3 DSP/BIOS程序设计 | 第44-59页 |
4.3.1 AD采样程序 | 第46-48页 |
4.3.2 AD采样校准算法 | 第48-49页 |
4.3.3 LED指示灯程序 | 第49页 |
4.3.4 输出占空比可调的PWM波 | 第49-51页 |
4.3.5 输出占空比和频率可调的PWM波 | 第51-54页 |
4.3.6 FreeModbus协议在DSP/BIOS中的移植 | 第54-56页 |
4.3.7 应用程序从Flash复制到RAM内运行 | 第56-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-60页 |
第5章 基于LABVIEW的工控机软件设计 | 第60-76页 |
5.1 基于LABVIEW的控制界面设计 | 第60-71页 |
5.1.1 消息队列结构 | 第62-64页 |
5.1.2 NI Modbus协议 | 第64-66页 |
5.1.3 中位值平均滤波算法 | 第66-67页 |
5.1.4 工作时间计时程序 | 第67-68页 |
5.1.5 三路电源监测仪 | 第68-69页 |
5.1.6 数据存储程序 | 第69-70页 |
5.1.7 过载保护程序 | 第70-71页 |
5.2 基于LABVIEW的控制算法设计 | 第71-75页 |
5.2.1 储存器模型 | 第71页 |
5.2.2 离子源电流模型 | 第71-72页 |
5.2.3 PID控制算法 | 第72-73页 |
5.2.4 PID控制器参数整定 | 第73-74页 |
5.2.5 控制算法程序 | 第74-75页 |
5.3 本章小结 | 第75-76页 |
第6章 中子发生器测试及结果 | 第76-83页 |
6.1 中子发生器电源测试 | 第76-80页 |
6.1.1 三路电源测试 | 第76-79页 |
6.1.2 离子源触发脉冲和同步脉冲测试 | 第79-80页 |
6.2 中子产额及其稳定性测试 | 第80-82页 |
6.2.1 中子发生器产额测试 | 第80-81页 |
6.2.2 中子产额稳定性测试 | 第81-82页 |
6.3 本章小结 | 第82-83页 |
第7章 总结与展望 | 第83-85页 |
7.1 全文总结 | 第83页 |
7.2 未来展望 | 第83-85页 |
参考文献 | 第85-89页 |
附录1 | 第89-90页 |
附录2 | 第90-91页 |
附录3 | 第91-92页 |
附录4 | 第92-93页 |
致谢 | 第93-94页 |
在学期间主要科研成果 | 第94页 |