致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第10-19页 |
1.1 单片集成可调谐半导体激光器 | 第10-12页 |
1.2 半导体激光器的准连续调谐 | 第12-16页 |
1.3 本论文章节安排 | 第16-17页 |
1.4 本论文创新点 | 第17-19页 |
2 V型腔半导体激光器准连续调谐方案 | 第19-34页 |
2.1 V型腔半导体激光器的结构与制造 | 第19-24页 |
2.1.1 游标效应与半波耦合器 | 第19-24页 |
2.1.2 V型腔半导体激光器的制造 | 第24页 |
2.2 V型腔半导体激光器的调谐原理 | 第24-27页 |
2.2.1 载流子注入效应与热光效应 | 第24-26页 |
2.2.2 V型腔半导体激光器数字式调谐 | 第26-27页 |
2.3 V型腔半导体激光器的准连续调谐方案 | 第27-34页 |
2.3.1 长腔/短腔双电极准连续调谐方案 | 第27-30页 |
2.3.2 长腔/耦合器双电极准连续调谐方案 | 第30-31页 |
2.3.3 信道最佳工作点的选取方法 | 第31-34页 |
3 定标与测试系统设计 | 第34-50页 |
3.1 准连续调谐定标系统设计 | 第34-41页 |
3.1.1 定标系统功能分析 | 第34页 |
3.1.2 硬件平台与系统设计 | 第34-36页 |
3.1.3 定标流程和软件设计 | 第36-41页 |
3.2 高速波长准连续调谐的驱动与测试系统设计 | 第41-45页 |
3.2.1 高速驱动电路与固件 | 第41-44页 |
3.2.2 测试系统设计 | 第44-45页 |
3.3 基于wavelength locker的实时波长计 | 第45-50页 |
3.3.1 实时波长计设计与定标 | 第45-48页 |
3.3.2 数据处理与频率计算 | 第48-50页 |
4 波长准连续调谐的测试性能和分析 | 第50-71页 |
4.1 单个温度下的波长准连续调谐 | 第50-56页 |
4.1.1 载流子注入效应与热光效应竞争区 | 第50-51页 |
4.1.2 温度引起的增益谱漂移效应 | 第51-53页 |
4.1.3 单个温度下激光器准连续调谐结果分析 | 第53-56页 |
4.2 覆盖一个波段的波长准连续调谐 | 第56-60页 |
4.2.1 40nm波长准连续调谐实现结果与分析 | 第56-59页 |
4.2.2 V型腔半导体激光器的调谐性能总结 | 第59-60页 |
4.3 准连续调谐精度分析 | 第60-61页 |
4.4 高速调谐测试结果与分析 | 第61-64页 |
4.4.1 长腔/短腔双电极准连续调谐的高速测试 | 第62-63页 |
4.4.2 长腔/耦合器双电极准连续调谐的高速测试 | 第63-64页 |
4.5 跃变点测试与分析 | 第64-67页 |
4.6 V型腔激光器的改进结构与准连续调谐性能优化 | 第67-71页 |
4.6.1 基于量子阱混杂的V型腔半导体激光器 | 第67-68页 |
4.6.2 集成薄膜加热器的V型腔半导体激光器 | 第68-69页 |
4.6.3 端面对接无源调谐区的V型腔半导体激光器 | 第69-71页 |
5 总结与展望 | 第71-73页 |
5.1 本文总结 | 第71页 |
5.2 工作展望 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-78页 |
附录 | 第78页 |
作者简介 | 第78页 |
成果附录 | 第78页 |