摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 受激发射损耗(STED)显微技术原理 | 第10-13页 |
1.2 受激发射损耗显微技术研究进展 | 第13-16页 |
1.3 受激发射损耗显微技术的应用 | 第16-17页 |
1.4 本章小结 | 第17-20页 |
第二章 基于相位板和偏振态变化的波前光束调制技术探究 | 第20-34页 |
2.1 理论模拟基础 | 第20-22页 |
2.2 五种偏振光在不同相位板下的模拟计算 | 第22-33页 |
2.3 本章小结 | 第33-34页 |
第三章 提高受激发射损耗显微系统分辨率的模拟研究 | 第34-42页 |
3.1 理论模拟基础 | 第34-37页 |
3.2 角向偏振光分辨率的提高 | 第37-40页 |
3.3 本章小结 | 第40-42页 |
第四章 连续激光的受激发射损耗显微系统的理论研究 | 第42-54页 |
4.1 理论模拟基础 | 第42-48页 |
4.2 理论模型的验证 | 第48-51页 |
4.3 本章小结 | 第51-54页 |
第五章 基于连续激光受激发射损耗系统对Coumarin102饱和光强的实验研究 | 第54-64页 |
5.1 引言 | 第54-55页 |
5.2 实验部分 | 第55-57页 |
5.3 实验结果 | 第57-61页 |
5.4 本章小结 | 第61-64页 |
总结与展望 | 第64-66页 |
总结 | 第64-65页 |
展望 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-72页 |
攻读硕士学位期间取得的科研成果 | 第72-74页 |
致谢 | 第74-75页 |