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波谱—能谱复合型X射线荧光光谱仪软件开发及矿物效应校正方法研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第1章 引言第14-32页
    1.1 X射线荧光光谱第14-16页
        1.1.1 X射线荧光光谱概述第14-15页
        1.1.2 X射线荧光光谱基本原理第15-16页
    1.2 X射线荧光光谱仪第16-22页
        1.2.1 X射线荧光光谱仪的结构第16页
        1.2.2 波长色散X射线荧光光谱第16-18页
        1.2.3 能量色散X射线荧光光谱第18-20页
        1.2.4 复合型X射线荧光光谱第20-21页
        1.2.5 X射线荧光光谱分析测试软件第21-22页
    1.3 定量分析第22-27页
        1.3.1 定量分析方法第22-23页
        1.3.2 基体效应及校正第23-25页
        1.3.4 基本参数第25-27页
    1.4 X射线荧光光谱的应用第27-29页
    1.5 本论文目的与意义第29-30页
    1.6 技术路线与研究思路第30-32页
第2章 软件设计第32-60页
    2.1 编程语言的选择第32-34页
        2.1.1 .NET平台第32-33页
        2.1.2 C第33-34页
    2.2 整体设计第34-37页
        2.2.1 软件框架第34页
        2.2.2 操作步骤第34-36页
        2.2.3 测试流程第36-37页
    2.3 机械控制系统第37-45页
        2.3.1 功能分析第37-38页
        2.3.2 CAN总线系统第38-42页
        2.3.3 子系统类型设计第42-45页
    2.4 数据采集系统第45-48页
        2.4.1 多道脉冲幅度分析器(MCA)第45-46页
        2.4.2 MCA类型设计第46-47页
        2.4.3 采谱流程第47-48页
    2.5 标准样品数据库第48-51页
        2.5.1 功能设计第48-50页
        2.5.2 文件存储第50-51页
    2.6 软件界面介绍第51-57页
        2.6.1 系统设置第51-52页
        2.6.2 测试列表第52-53页
        2.6.3 谱仪状态第53-54页
        2.6.4 参数设置第54-56页
        2.6.5 谱图显示第56-57页
    2.7 软件的实际应用第57-59页
    2.8 本章小结第59-60页
第3章 矿物效应校正方法研究第60-82页
    3.1 引言第60-61页
    3.2 实验条件第61-63页
        3.2.1 仪器设备与样品制备第61-62页
        3.2.2 通道参数第62页
        3.2.3 计数时间第62-63页
    3.3 重复性测试第63-65页
    3.4 Kβ/Kα值的测定第65-69页
    3.5 多标样与单标样测试结果比较第69-76页
    3.6 实际样品测试第76-79页
    3.7 本章小结第79-82页
结论与展望第82-84页
参考文献第84-88页
致谢第88-90页
作者简历第90-92页
攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第92页

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