波谱—能谱复合型X射线荧光光谱仪软件开发及矿物效应校正方法研究
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 引言 | 第14-32页 |
1.1 X射线荧光光谱 | 第14-16页 |
1.1.1 X射线荧光光谱概述 | 第14-15页 |
1.1.2 X射线荧光光谱基本原理 | 第15-16页 |
1.2 X射线荧光光谱仪 | 第16-22页 |
1.2.1 X射线荧光光谱仪的结构 | 第16页 |
1.2.2 波长色散X射线荧光光谱 | 第16-18页 |
1.2.3 能量色散X射线荧光光谱 | 第18-20页 |
1.2.4 复合型X射线荧光光谱 | 第20-21页 |
1.2.5 X射线荧光光谱分析测试软件 | 第21-22页 |
1.3 定量分析 | 第22-27页 |
1.3.1 定量分析方法 | 第22-23页 |
1.3.2 基体效应及校正 | 第23-25页 |
1.3.4 基本参数 | 第25-27页 |
1.4 X射线荧光光谱的应用 | 第27-29页 |
1.5 本论文目的与意义 | 第29-30页 |
1.6 技术路线与研究思路 | 第30-32页 |
第2章 软件设计 | 第32-60页 |
2.1 编程语言的选择 | 第32-34页 |
2.1.1 .NET平台 | 第32-33页 |
2.1.2 C | 第33-34页 |
2.2 整体设计 | 第34-37页 |
2.2.1 软件框架 | 第34页 |
2.2.2 操作步骤 | 第34-36页 |
2.2.3 测试流程 | 第36-37页 |
2.3 机械控制系统 | 第37-45页 |
2.3.1 功能分析 | 第37-38页 |
2.3.2 CAN总线系统 | 第38-42页 |
2.3.3 子系统类型设计 | 第42-45页 |
2.4 数据采集系统 | 第45-48页 |
2.4.1 多道脉冲幅度分析器(MCA) | 第45-46页 |
2.4.2 MCA类型设计 | 第46-47页 |
2.4.3 采谱流程 | 第47-48页 |
2.5 标准样品数据库 | 第48-51页 |
2.5.1 功能设计 | 第48-50页 |
2.5.2 文件存储 | 第50-51页 |
2.6 软件界面介绍 | 第51-57页 |
2.6.1 系统设置 | 第51-52页 |
2.6.2 测试列表 | 第52-53页 |
2.6.3 谱仪状态 | 第53-54页 |
2.6.4 参数设置 | 第54-56页 |
2.6.5 谱图显示 | 第56-57页 |
2.7 软件的实际应用 | 第57-59页 |
2.8 本章小结 | 第59-60页 |
第3章 矿物效应校正方法研究 | 第60-82页 |
3.1 引言 | 第60-61页 |
3.2 实验条件 | 第61-63页 |
3.2.1 仪器设备与样品制备 | 第61-62页 |
3.2.2 通道参数 | 第62页 |
3.2.3 计数时间 | 第62-63页 |
3.3 重复性测试 | 第63-65页 |
3.4 Kβ/Kα值的测定 | 第65-69页 |
3.5 多标样与单标样测试结果比较 | 第69-76页 |
3.6 实际样品测试 | 第76-79页 |
3.7 本章小结 | 第79-82页 |
结论与展望 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-88页 |
致谢 | 第88-90页 |
作者简历 | 第90-92页 |
攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第92页 |