TDR脉冲源和采样关键技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究动态 | 第11-13页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第14-15页 |
| 第二章 TDR相关技术与方案设计 | 第15-30页 |
| 2.1 传输与反射 | 第15-19页 |
| 2.1.1 电信号的传输与匹配 | 第15-16页 |
| 2.1.2 反射形成过程 | 第16-19页 |
| 2.2 TDR的工作原理 | 第19-22页 |
| 2.3 TDR的关键技术分析 | 第22-26页 |
| 2.3.1 脉冲源性能对分辨率的影响 | 第22-24页 |
| 2.3.2 采样系统对采样性能的影响 | 第24-26页 |
| 2.4 脉冲源和采样系统主要技术指标 | 第26-28页 |
| 2.5 脉冲源和采样系统方案设计 | 第28-29页 |
| 2.6 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 脉冲源的研究与设计 | 第30-45页 |
| 3.1 脉冲参数 | 第30页 |
| 3.2 脉冲源方案 | 第30-32页 |
| 3.3 基于隧道二极管的脉冲设计方案 | 第32-36页 |
| 3.4 基于比较原理的脉冲设计方案 | 第36-44页 |
| 3.4.1 SRD的工作特性 | 第36-39页 |
| 3.4.2 SRD的整形电路设计 | 第39-40页 |
| 3.4.3 比较器整形电路设计 | 第40-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 采样关键技术研究 | 第45-71页 |
| 4.1 差值采样概述 | 第45-46页 |
| 4.2 采样系统设计方案 | 第46-49页 |
| 4.3 旁通效应的改善研究 | 第49-55页 |
| 4.3.1 旁通效应的成因 | 第49-51页 |
| 4.3.2 功分器的设计与仿真 | 第51-55页 |
| 4.4 采样脉冲的设计 | 第55-70页 |
| 4.4.1 采样脉冲的设计方案 | 第55-56页 |
| 4.4.2 基于SRD和微带线组合的采样脉冲设计 | 第56-61页 |
| 4.4.3 基于晶体管的采样脉冲设计 | 第61-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 硬件电路设计与性能测试 | 第71-85页 |
| 5.1 电路实物图 | 第71-72页 |
| 5.2 调试工具与流程 | 第72-73页 |
| 5.2.1 电路调试工具 | 第72页 |
| 5.2.2 电路调试流程 | 第72-73页 |
| 5.3 性能测试 | 第73-84页 |
| 5.3.1 脉冲源模块的测试 | 第73-75页 |
| 5.3.2 采样脉冲性能测试 | 第75-77页 |
| 5.3.3 整机性能测试 | 第77-79页 |
| 5.3.4 线缆阻抗值的测试 | 第79-84页 |
| 5.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| 6.1 总结 | 第85-86页 |
| 6.2 展望 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-90页 |
| 硕士期间的成果 | 第90-91页 |
