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CMOS工艺下基于过零检测器的Pipeline ADC的设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-15页
    1.1 研究背景第11页
    1.2 国内外发展现状第11-12页
    1.3 技术发展趋势第12-14页
    1.4 研究内容及论文结构第14-15页
第二章 模数转换器的系统介绍第15-28页
    2.1 模数转换器的工作原理第15-16页
    2.2 模数转换器的主要性能参数第16-23页
        2.2.1 静态参数第16-22页
        2.2.2 动态参数第22-23页
    2.3 不同类型的模数转换器简介第23-27页
        2.3.1 快闪型模数转换器第23-24页
        2.3.2 逐次逼近型模数转换器第24-25页
        2.3.3 流水线型模数转换器第25-26页
        2.3.4 Σ-Δ 型模数转换器第26-27页
    2.4 本章小结第27-28页
第三章 流水线型模数转换器的系统分析第28-39页
    3.1 单级信号传输分析及数字校正第28-31页
    3.2 余量放大电路第31-38页
        3.2.1 运放结构第32-33页
        3.2.2 无运放结构第33-38页
            3.2.2.1 开环放大器第33页
            3.2.2.2 源跟随器第33-34页
            3.2.2.3 容性电荷泵第34-35页
            3.2.2.4 电荷耦合器件电荷数字转换第35-36页
            3.2.2.5 过零检测结构第36-38页
    3.3 本章小结第38-39页
第四章 过零检测电路的线性和噪声分析第39-47页
    4.1 过冲电压第39-41页
        4.1.1 斜坡的非线性第40页
        4.1.2 过零检测电路的线性计算第40-41页
    4.2 电容匹配要求第41-42页
    4.3 过零检测电路的噪声分析第42-44页
        4.3.1 电流源噪声第42页
        4.3.2 过零检测器的噪声第42-44页
    4.4 过零检测器噪声和运放噪声的对比第44-46页
        4.4.1 过零检测电路的带宽要求第44页
        4.4.2 运放结构的带宽要求第44-45页
        4.4.3 噪声带宽比较举例第45-46页
    4.5 本章小结第46-47页
第五章 电路的设计及仿真第47-64页
    5.1 系统框图第47-48页
    5.2 单级结构第48-50页
        5.2.1 电路工作原理第48-49页
        5.2.2 系统参数的确定第49-50页
    5.3 电路实现第50-61页
        5.3.1 Flash ADC第50-52页
        5.3.2 1.5bit DAC第52-54页
        5.3.3 MDAC第54-57页
            5.3.3.1 电流源第54-56页
            5.3.3.2 过零检测器第56-57页
        5.3.4 数字校正电路第57-59页
        5.3.5 其他外围电路第59-61页
            5.3.5.1 时钟产生电路第59-60页
            5.3.5.2 低压差线性稳压器第60-61页
    5.4 系统性能第61-63页
        5.4.1 单级仿真第61页
        5.4.2 系统仿真第61-63页
    5.5 本章小结第63-64页
第六章 版图布局及设计第64-71页
    6.1 模拟版图设计的基本原则第64-65页
        6.1.1 设计规则第64页
        6.1.2 布局布线的原则第64-65页
    6.2 模数转换器的模块设计第65-70页
        6.2.1 比较器版图第66-67页
        6.2.2 电容阵列版图第67页
        6.2.3 过零检测器版图第67-68页
        6.2.4 单级电路版图第68-69页
        6.2.5 数字校正电路版图第69页
        6.2.6 系统版图第69-70页
    6.3 本章小结第70-71页
第七章 全文总结与展望第71-73页
    7.1 全文总结第71页
    7.2 后续工作展望第71-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-76页
攻读硕士学位期间取得的成果第76-77页

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