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Bi2Se3族拓扑绝缘体能带调控的第一性原理研究

中文摘要第2-3页
Abstract第3页
中文文摘第4-8页
第一章 绪论第8-22页
    1.1 拓扑绝缘体概述第8-10页
    1.2 拓扑绝缘体发展历史第10-15页
    1.3 拓扑绝缘体Bi_2Se_3和Bi_2Te_3第15-18页
    1.4 拓扑绝缘体的磁性掺杂第18-20页
    1.5 本文的研究意义和大致结构第20-22页
第二章 理论与方法第22-30页
    2.1 引言第22页
    2.2 绝热近似第22-23页
    2.3 Hartree-Fock近似第23-26页
    2.4 密度泛函理论第26-27页
    2.5 交换关联泛函第27-28页
    2.6 VASP程序简介第28-30页
第三章 外力应变对Bi_2Se_3拓扑绝缘体能带调控的第一性原理研究第30-38页
    3.1 引言第30页
    3.2 模型与方法第30-32页
    3.3 结果与讨论第32-36页
    3.4 本章小结第36-38页
第四章 磁性掺杂拓扑绝缘体材料的表面态及其电场调控第38-54页
    4.1 引言第38页
    4.2 模型与方法第38-40页
    4.3 结果与讨论第40-52页
    4.4 本章小结第52-54页
第五章 拓扑绝缘体Bi_2 (Se_xTe_(1-x))3合金的表面态及其电场调控第54-62页
    5.1 引言第54页
    5.2 模型与方法第54-56页
    5.3 结果与讨论第56-60页
    5.4 本章小结第60-62页
第六章 总结与展望第62-64页
参考文献第64-72页
攻读学位期间承担的科研任务与主要成果第72-74页
致谢第74-76页
个人简历第76-80页

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