| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 金属缺陷无损检测技术简介 | 第10-12页 |
| 1.1.1 传统检测方法及原理 | 第10-12页 |
| 1.1.2 检测技术发展现状及趋势 | 第12页 |
| 1.2 电磁层析成像技术简介 | 第12-15页 |
| 1.2.1 基本原理与优势 | 第12-13页 |
| 1.2.2 发展历程与趋势 | 第13-15页 |
| 1.3 EMT检测系统在金属缺陷检测领域应用现状 | 第15页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第15-18页 |
| 第二章 电磁层析成像技术理论与图像质量评价 | 第18-28页 |
| 2.1 被测物场数学模型 | 第18-21页 |
| 2.2 电磁层析成像正问题 | 第21-23页 |
| 2.2.1 正问题求解方法 | 第21-22页 |
| 2.2.2 灵敏度矩阵构建 | 第22-23页 |
| 2.3 电磁层析成像逆问题 | 第23-24页 |
| 2.3.1 逆问题数学模型 | 第23-24页 |
| 2.3.2 逆问题求解 | 第24页 |
| 2.4 重建图像质量评价 | 第24-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 基于平面阵列电磁传感器金属缺陷检测新方法 | 第28-40页 |
| 3.1 平面阵列电磁传感器设计 | 第28-30页 |
| 3.1.1 传感器具体设计 | 第28-29页 |
| 3.1.2 传感器线圈激励测量策略 | 第29-30页 |
| 3.2 金属缺陷检测方法 | 第30-34页 |
| 3.2.1 基于平面阵列电磁传感器扫描式检测方法 | 第30-31页 |
| 3.2.2 基于平面阵列电磁传感器EMT成像检测方法 | 第31-34页 |
| 3.3 金属缺陷检测仿真实验 | 第34-39页 |
| 3.3.1 传感器仿真模型 | 第34页 |
| 3.3.2 仿真验证中金属缺陷图像重建结果 | 第34-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 平面阵列电磁传感器检测系统设计与实验验证 | 第40-56页 |
| 4.1 检测系统结构组成 | 第40-42页 |
| 4.2 激励源模块设计 | 第42-43页 |
| 4.3 多路选通模块设计 | 第43-44页 |
| 4.4 高速采集模块设计 | 第44-45页 |
| 4.5 上位机界面模块设计 | 第45-53页 |
| 4.5.1 上位机软件界面设计 | 第45-47页 |
| 4.5.2 上位机界面模块设计 | 第47页 |
| 4.5.3 通信接口模块设计 | 第47-49页 |
| 4.5.4 数据采集处理模块设计 | 第49-50页 |
| 4.5.5 有限元剖分模块设计 | 第50-51页 |
| 4.5.6 成像算法实现和应用模块设计 | 第51-53页 |
| 4.6 金属缺陷成像实验 | 第53-55页 |
| 4.7 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 工作总结 | 第56-57页 |
| 5.2 未来展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 硕士期间发表论文和参加科研情况 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64页 |