| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研发背景 | 第11-12页 |
| 1.2 发展概况 | 第12-14页 |
| 1.2.1 X射线回摆曲线测试仪发展概况 | 第12-13页 |
| 1.2.2 PLC发展及应用 | 第13-14页 |
| 1.3 X射线回摆曲线测试仪结构及功能 | 第14-15页 |
| 1.4 论文主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 X射线回摆曲线测定系统总体设计 | 第17-27页 |
| 2.1 系统任务及基本构成 | 第17页 |
| 2.2 系统功能介绍 | 第17-19页 |
| 2.3 系统运行流程 | 第19页 |
| 2.4 系统硬件结构设计 | 第19-20页 |
| 2.5 系统软件结构设计 | 第20-22页 |
| 2.5.1 PLC下位机控制程序设计 | 第20-21页 |
| 2.5.2 PC上位机应用程序设计 | 第21-22页 |
| 2.6 系统软件开发环境介绍 | 第22-25页 |
| 2.6.1 PLC程序开发环境SIEMENS STEP7 V5.5 | 第22-23页 |
| 2.6.2 PC程序开发环境Microsoft Visual C++ 6.0 | 第23-25页 |
| 2.7 本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 X射线回摆曲线测定系统硬件设计 | 第27-41页 |
| 3.1 PLC主控制单元硬件设计 | 第27-29页 |
| 3.1.1 系统下位机硬件组态 | 第27-28页 |
| 3.1.2 系统下位机输入输出配置 | 第28-29页 |
| 3.2 采样单元硬件设计 | 第29-33页 |
| 3.2.1 模拟量信号采样 | 第29-31页 |
| 3.2.2 编码器信号采样 | 第31-33页 |
| 3.3 运动单元硬件设计 | 第33-37页 |
| 3.3.1 检测台设计要求 | 第33页 |
| 3.3.2 步进电机控制方案 | 第33-37页 |
| 3.4 通信单元硬件设计 | 第37-40页 |
| 3.4.1 CP340-RS422/485介绍及应用 | 第37-38页 |
| 3.4.2 RS232-RS485转换模块应用 | 第38-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 X射线回摆曲线测定系统软件设计 | 第41-57页 |
| 4.1 PLC下位机控制程序设计 | 第41-44页 |
| 4.1.1 下位机初始化程序设计 | 第41页 |
| 4.1.2 单次指令程序设计 | 第41-42页 |
| 4.1.3 连续指令程序设计 | 第42页 |
| 4.1.4 校准指令程序设计 | 第42-43页 |
| 4.1.5 正转和反转指令程序设计 | 第43-44页 |
| 4.2 PC上位机软件设计 | 第44-53页 |
| 4.2.1 软件主要构成及功能 | 第44-47页 |
| 4.2.2 数据串行通信程序开发 | 第47-49页 |
| 4.2.3 采集数据实时显示程序开发 | 第49-51页 |
| 4.2.4 采集数据二次处理 | 第51页 |
| 4.2.5 数据实时存储 | 第51页 |
| 4.2.6 转换工具软件开发 | 第51-52页 |
| 4.2.7 PC上位机软件运行流程 | 第52-53页 |
| 4.3 双峰分离数据处理 | 第53-56页 |
| 4.3.1 数据处理背景 | 第53-54页 |
| 4.3.2 数据处理方法 | 第54-56页 |
| 4.3.3 数据处理效果 | 第56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 晶体缺陷的模糊模式识别算法研究 | 第57-77页 |
| 5.1 模式识别概论 | 第57-58页 |
| 5.2 模糊模式识别相关技术基础 | 第58-66页 |
| 5.2.1 模糊关系和模糊矩阵 | 第58页 |
| 5.2.2 模糊语言变量和模糊推理 | 第58-59页 |
| 5.2.3 贴近度和择近原则 | 第59-60页 |
| 5.2.4 模糊模式识别系统 | 第60-62页 |
| 5.2.5 模糊聚类分析 | 第62-63页 |
| 5.2.6 BP神经网络学习算法 | 第63-66页 |
| 5.3 晶体缺陷的BP神经网络模糊模式识别 | 第66-75页 |
| 5.3.1 晶片缺陷模式提取 | 第67-68页 |
| 5.3.2 晶片缺陷模式库建立 | 第68-69页 |
| 5.3.3 模糊K均值聚类算法应用 | 第69-71页 |
| 5.3.4 BP神经网络样本训练 | 第71-72页 |
| 5.3.5 采样晶片模糊模式匹配 | 第72-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-77页 |
| 第6章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
