晶体振荡器与时间继电器自动测试系统的设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究背景及意义 | 第8页 |
| ·国内外发展现状 | 第8-9页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第9-11页 |
| 2 时间/频率测量方法 | 第11-15页 |
| ·直接测频法 | 第11页 |
| ·间接测频法 | 第11-12页 |
| ·等精度测量法 | 第12-13页 |
| ·测试仪设计方案论证 | 第13-15页 |
| 3 系统的硬件设计 | 第15-48页 |
| ·硬件总体设计 | 第15-16页 |
| ·单片机主控模块设计 | 第16-26页 |
| ·LM3S8962 单片机介绍 | 第16-24页 |
| ·单片机控制电路设计 | 第24-26页 |
| ·FPGA 内部的测试模块 | 第26-42页 |
| ·FPGA 芯片介绍 | 第26-28页 |
| ·完成测试的各功能模块设计 | 第28-36页 |
| ·通用接口设计 | 第36-39页 |
| ·GPIB 接口与SCPI 协议 | 第39-42页 |
| ·外围电路设计 | 第42-48页 |
| ·键盘接口电路设计 | 第42-43页 |
| ·液晶显示电路设计 | 第43-45页 |
| ·JTAG 及AS 配置电路设计 | 第45-46页 |
| ·电源模块设计 | 第46-48页 |
| 4 系统的软件设计 | 第48-67页 |
| ·基于LM3S8962 的程序开发 | 第49-54页 |
| ·LM3S8962 开发环境介绍 | 第49-50页 |
| ·单片机主程序设计 | 第50页 |
| ·键盘扫描子程序设计 | 第50-54页 |
| ·基于FPGA 的程序 | 第54-62页 |
| ·FPGA 开发环境 | 第54-58页 |
| ·FPGA 单元模块的实现 | 第58-62页 |
| ·上位机开发环境Labwindows/CVI | 第62-67页 |
| ·虚拟仪器界面模块 | 第62-63页 |
| ·应用程序设计 | 第63-67页 |
| 5 系统测试及结果 | 第67-72页 |
| ·调试过程 | 第67-68页 |
| ·硬件调试 | 第67页 |
| ·软件调试 | 第67-68页 |
| ·系统测试 | 第68-70页 |
| ·作品实物及测量结果显示 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 附录A 晶振与时间继电器测试仪PCB 板图 | 第75页 |
| 附录B 单片机main 函数 | 第75-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
