CMOS图像传感器量子效率和满阱容量参数测量方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第11-16页 |
| 1.1.1 CMOS图像传感器发展 | 第11-13页 |
| 1.1.2 CMOS成像器件及应用 | 第13-16页 |
| 1.2 课题研究意义 | 第16-17页 |
| 1.3 课题研究内容 | 第17-18页 |
| 1.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第2章 测试系统理论介绍及测试方法研究 | 第19-39页 |
| 2.1 测试标准简介 | 第19-25页 |
| 2.1.1 EMVA1288标准 | 第19-23页 |
| 2.1.2 CMOS图像传感器的关键性能参数介绍 | 第23-25页 |
| 2.2 光子转换原理 | 第25-31页 |
| 2.2.1 光子转换技术 | 第25-26页 |
| 2.2.2 量子效率和内量子效率 | 第26-29页 |
| 2.2.3 光子传输理论 | 第29-31页 |
| 2.3 光能量检测原理 | 第31-33页 |
| 2.3.1 光能量检测理论 | 第31页 |
| 2.3.2 光电探头选型 | 第31-33页 |
| 2.4 量子效率和满阱容量测试方法 | 第33-38页 |
| 2.4.1 量子效率测量方法研究 | 第33-36页 |
| 2.4.2 满阱容量测量方法研究 | 第36-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第3章 图像传感器测试系统介绍 | 第39-47页 |
| 3.1 测试系统总体结构 | 第39-40页 |
| 3.2 光源 | 第40-42页 |
| 3.3 滤光装置 | 第42-43页 |
| 3.4 积分球 | 第43-44页 |
| 3.5 暗室 | 第44页 |
| 3.6 下位机数据采集电路板 | 第44-45页 |
| 3.7 上位机 | 第45-46页 |
| 3.8 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 测试系统硬件电路设计 | 第47-64页 |
| 4.1 光能量采集模块 | 第47-53页 |
| 4.1.1 I/V变换及光信号放大电路 | 第47-49页 |
| 4.1.2 低通滤波电路 | 第49-50页 |
| 4.1.3 AD转换电路 | 第50-51页 |
| 4.1.4 外部存储芯片AT24C02 | 第51-52页 |
| 4.1.5 光能量采集模块标定 | 第52-53页 |
| 4.2 图像传感器模块 | 第53-55页 |
| 4.3 FPGA最小系统及外围电路 | 第55-60页 |
| 4.3.1 FPGA最小系统 | 第56-58页 |
| 4.3.2 温度传感器 | 第58-59页 |
| 4.3.3 光照传感器 | 第59-60页 |
| 4.3.4 DDR2 SDRAM存储器 | 第60页 |
| 4.4 Camerallink接口 | 第60-62页 |
| 4.5 测试硬件电路模块化设计 | 第62-63页 |
| 4.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 CMOS图像传感器参数测试与数据处理 | 第64-80页 |
| 5.1 测试流程概述 | 第64-66页 |
| 5.2 基本测试 | 第66-67页 |
| 5.3 QE测试和FWC测试 | 第67-77页 |
| 5.3.1 QE测试实验 | 第67-70页 |
| 5.3.2 FWC测试实验 | 第70-77页 |
| 5.4 其他参数测试 | 第77-79页 |
| 5.4.1 平均暗电流测试 | 第77页 |
| 5.4.2 信噪比测试 | 第77-78页 |
| 5.4.3 不均匀性测试 | 第78-79页 |
| 5.5 本章小结 | 第79-80页 |
| 第6章 硬件电路评估及噪声分析 | 第80-83页 |
| 6.1 硬件电路噪声分析 | 第80-82页 |
| 6.1.1 光能量采集模块噪声分析 | 第80-81页 |
| 6.1.2 电源噪声分析 | 第81页 |
| 6.1.3 降噪措施 | 第81-82页 |
| 6.2 各模块间速度匹配 | 第82页 |
| 6.3 FPGA资源利用 | 第82页 |
| 6.4 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
