普通电阻率测井复杂井眼环境校正模板计算正演方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 普通电阻率测井技术研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.2 井眼校正的研究进展 | 第15-16页 |
| 1.3 本文的主要内容及贡献 | 第16页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 普通电阻率测井井眼校正方法 | 第18-28页 |
| 2.1 普通电阻率测井原理 | 第18-22页 |
| 2.2 井眼环境校正方法 | 第22-24页 |
| 2.3 井眼校正简单例子 | 第24-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 复杂井眼环境校正模板正演计算 | 第28-36页 |
| 3.1 地层各向异性 | 第28-30页 |
| 3.2 复杂井眼环境地层模型分类 | 第30-33页 |
| 3.2.1 居中型 | 第31页 |
| 3.2.2 偏心型I类 | 第31-32页 |
| 3.2.3 偏心型II类 | 第32-33页 |
| 3.3 普通电阻率测井正演计算 | 第33-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 点电极稳恒电场计算伪解析解方法 | 第36-58页 |
| 4.1 方法介绍 | 第36-46页 |
| 4.1.1 ? 函数展开 | 第36-37页 |
| 4.1.2 简单两层介质 | 第37-41页 |
| 4.1.3 复杂多层介质 | 第41-45页 |
| 4.1.4 普通电阻率测井响应视值计算 | 第45-46页 |
| 4.2 BESSEL函数溢出问题解决方法 | 第46-51页 |
| 4.2.1 有限精度计算Bessel函数溢出 | 第46-48页 |
| 4.2.2 Bessel函数重整化定义 | 第48-49页 |
| 4.2.3 重整化计算公式 | 第49-51页 |
| 4.3 快速积分方法 | 第51-57页 |
| 4.3.1 积分路径的选择 | 第51-55页 |
| 4.3.2 David Levin快速振荡积分 | 第55-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 普通电阻率测井复杂井眼校正模板计算与分析 | 第58-82页 |
| 5.1 程序介绍 | 第58-59页 |
| 5.2 程序结果精度分析 | 第59-61页 |
| 5.3 居中型井眼校正模板计算 | 第61-64页 |
| 5.4 偏心型I类井眼校正模板计算 | 第64-70页 |
| 5.5 偏心型II类井眼校正模板计算 | 第70-74页 |
| 5.6 混合型井眼校正模板计算 | 第74-81页 |
| 5.6.1 混合型I类 | 第74-76页 |
| 5.6.2 混合型II类 | 第76-81页 |
| 5.7 本章小结 | 第81-82页 |
| 结论 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
