数字集成电路自动测试硬件技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·集成电路自动测试系统的国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·集成电路自动测试系统的测试费用 | 第13-14页 |
| ·集成电路自动测试面临的挑战 | 第14页 |
| ·课题实现的主要技术指标 | 第14-15页 |
| ·课题研究的主要内容和组织结构 | 第15-17页 |
| 第二章 集成电路测试技术 | 第17-30页 |
| ·集成电路测试的必要性 | 第17-18页 |
| ·集成电路测试的分类 | 第18-19页 |
| ·集成电路测试的原理与方法 | 第19-29页 |
| ·数字器件的逻辑功能测试 | 第19-26页 |
| ·测试周期及输入数据 | 第22-24页 |
| ·输出数据 | 第24-26页 |
| ·数字器件的直流参数测试 | 第26-29页 |
| ·集成电路生产测试的流程 | 第29-30页 |
| 第三章 数字测试板逻辑功能电路设计 | 第30-45页 |
| ·数字集成电路自动测试仪的总体硬件架构 | 第30-32页 |
| ·数字测试板逻辑功能硬件电路设计 | 第32-37页 |
| ·存储器设计 | 第33-34页 |
| ·电子引脚 | 第34-37页 |
| ·数字测试板逻辑功能测试 FPGA 设计 | 第37-45页 |
| ·FPGA 实现功能描述 | 第38-40页 |
| ·FPGA 内部各个模块的实现 | 第40-45页 |
| ·时钟管理模块 | 第40-41页 |
| ·存储器控制逻辑 | 第41-43页 |
| ·电子引脚控制电路 | 第43-45页 |
| 第四章 数字测试板直流参数电路设计 | 第45-59页 |
| ·数字测试板直流参数测试硬件电路设计 | 第45-53页 |
| ·模数转换器 | 第46-47页 |
| ·数模转换器 | 第47-49页 |
| ·精密测量单元 | 第49-53页 |
| ·数字测试板直流参数测试单元校准 | 第53-59页 |
| 第五章 数字器件测试设计与验证分析 | 第59-68页 |
| ·测试芯片简介 | 第59-60页 |
| ·数字器件逻辑功能测试设计 | 第60-65页 |
| ·数字器件直流参数测试设计 | 第65-67页 |
| ·数字器件测试结果 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-71页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第71-72页 |
