| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 电缆老化研究的综述 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 电缆的老化机理及老化状态评估方案 | 第15-24页 |
| 2.1 老化机理 | 第15-18页 |
| 2.1.1 老化机理的整体描述 | 第15-16页 |
| 2.1.2 空间电荷产生 | 第16-17页 |
| 2.1.3 XLPE晶体结构特点 | 第17页 |
| 2.1.4 载流运行对绝缘层的影响 | 第17页 |
| 2.1.5 绝缘层分子键的变化 | 第17-18页 |
| 2.2 第一阶段电缆的理、化、电特性老化试验方案 | 第18-21页 |
| 2.2.1 样品描述 | 第18页 |
| 2.2.2 试验方案 | 第18-21页 |
| 2.3 第二阶段绝缘层分层的理、化特性老化试验方案 | 第21-24页 |
| 2.3.1 样品描述 | 第21-22页 |
| 2.3.2 试验方案 | 第22-24页 |
| 第三章 电缆的理、化、电特性老化试验及结果分析 | 第24-46页 |
| 3.1 电特性试验 | 第24-28页 |
| 3.1.1 试验原理 | 第24-25页 |
| 3.1.2 试验步骤 | 第25页 |
| 3.1.3 结果分析 | 第25-28页 |
| 3.2 物理特性试验 | 第28-39页 |
| 3.2.1 等温松弛电流试验与结果分析 | 第28-35页 |
| 3.2.1.1 试验原理 | 第28-30页 |
| 3.2.2.2 试验步骤 | 第30-31页 |
| 3.2.2.3 结果分析 | 第31-35页 |
| 3.2.2 热老化试验与结果分析 | 第35-39页 |
| 3.2.2.1 热老化法的原理 | 第35-36页 |
| 3.2.2.2 试验步骤 | 第36页 |
| 3.2.2.3 结果分析 | 第36-39页 |
| 3.3 化学特性试验 | 第39-42页 |
| 3.3.1 活化能试验 | 第39-41页 |
| 3.3.1.1 试验原理 | 第39-40页 |
| 3.3.1.2 试验步骤 | 第40页 |
| 3.3.1.3 结果分析 | 第40-41页 |
| 3.3.2 氧化诱导期结果分析 | 第41-42页 |
| 3.4 结果的综合讨论与结论 | 第42-46页 |
| 3.4.1 讨论 | 第42-44页 |
| 3.4.2 结论 | 第44-46页 |
| 第四章 绝缘层分层的理、化特性老化试验及结果分析 | 第46-61页 |
| 4.1 脉冲电声试验与结果分析 | 第46-53页 |
| 4.1.1 试验对象 | 第46页 |
| 4.1.2 试验仪器 | 第46页 |
| 4.1.3 试验步骤 | 第46-47页 |
| 4.1.4 结果分析 | 第47-53页 |
| 4.1.4.1 空间电荷的密度 | 第47-50页 |
| 4.1.4.2 空间电荷的积累 | 第50-51页 |
| 4.1.4.3 空间电荷的消散 | 第51-52页 |
| 4.1.4.4 结果讨论 | 第52-53页 |
| 4.2 热失重试验与结果分析 | 第53-55页 |
| 4.2.1 原理简介 | 第53页 |
| 4.2.2 试验步骤 | 第53-54页 |
| 4.2.3 结果分析 | 第54-55页 |
| 4.3 傅里叶变换红外光谱试验与结果分析 | 第55-57页 |
| 4.3.1 试验步骤 | 第55页 |
| 4.3.2 结果分析 | 第55-57页 |
| 4.4 X射线衍射分析 | 第57-58页 |
| 4.4.1 试验条件 | 第57页 |
| 4.4.2 结果分析 | 第57-58页 |
| 4.5 结果的综合分析与结论 | 第58-61页 |
| 4.5.1 结果综合分析 | 第58-60页 |
| 4.5.2 结论 | 第60-61页 |
| 第五章 结论与展望 | 第61-64页 |
| 5.1 第一阶段 | 第61-62页 |
| 5.2 第二阶段 | 第62-63页 |
| 5.3 展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| Ⅳ-2答辩委员会对论文的评定意见 | 第75页 |