晶圆测试信息管理系统流程改造实施研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-11页 |
| 1.1 论文研究背景 | 第9页 |
| 1.2 论文研究目的 | 第9-10页 |
| 1.3 论文结构 | 第10-11页 |
| 2 相关理论和文献综述 | 第11-21页 |
| 2.1 RFID的基本原理和发展应用历史 | 第11-12页 |
| 2.1.1 RFID的基本原理和组成要素分解 | 第11页 |
| 2.1.2 RFID的发展应用历史 | 第11-12页 |
| 2.2 RFID系统在半导体产业应用 | 第12-18页 |
| 2.2.1 半导体产业中RFID的分类和比较选择 | 第12-13页 |
| 2.2.2 半导体产业中的应用案例 | 第13-18页 |
| 2.3 项目管理、信息系统相关理论 | 第18-20页 |
| 2.3.1 项目管理相关理论 | 第18-19页 |
| 2.3.2 信息系统相关理论 | 第19-20页 |
| 2.4 本研究对以往应用的突破展望 | 第20-21页 |
| 3 企业信息管理现状及问题分析 | 第21-31页 |
| 3.1 晶圆测试简介 | 第21-27页 |
| 3.1.1 半导体制造产业链简介 | 第21-22页 |
| 3.1.2 晶圆测试的生产流程和管理方法特点 | 第22-24页 |
| 3.1.3 晶圆测试作业流程简介 | 第24-27页 |
| 3.2 案例企业现状分析 | 第27-31页 |
| 3.2.1 企业简介 | 第27页 |
| 3.2.2 现有相关作业流程 | 第27-28页 |
| 3.2.3 企业信息系统问题分析 | 第28-31页 |
| 4 信息系统流程改造实施目标和应用设计 | 第31-39页 |
| 4.1 RFID应用对象介绍 | 第31-33页 |
| 4.2 系统流程改造实施目标 | 第33-35页 |
| 4.3 实时信息系统设计和架构 | 第35-39页 |
| 5 信息系统的实施和效益分析 | 第39-48页 |
| 5.1 系统实施步骤 | 第39-41页 |
| 5.1.1 应用实施步骤 | 第39页 |
| 5.1.2 具体实施的项目管理 | 第39-41页 |
| 5.2 实施过程中的问题解决 | 第41-42页 |
| 5.3 实施后的作业流程和信息系统总览 | 第42-44页 |
| 5.3.1 实施后的作业流程 | 第42-43页 |
| 5.3.2 流程改造后新系统完整信息流 | 第43-44页 |
| 5.4 流程改造后系统实施效益分析和总结 | 第44-48页 |
| 5.4.1 流程改造后系统实施对案例企业的效益 | 第44-45页 |
| 5.4.2 系统延伸对企业上下游供应链的潜在效益 | 第45页 |
| 5.4.3 系统实施的经验总结 | 第45-48页 |
| 结论 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
