双频法束长测量关键技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-43页 |
| 1.1 X射线光源简史 | 第11-12页 |
| 1.2 束长测量的国内外研究现状 | 第12-40页 |
| 1.2.1 条纹相机测量方法 | 第13-15页 |
| 1.2.2 单光子计数法 | 第15-17页 |
| 1.2.3 电子学类方法 | 第17-22页 |
| 1.2.4 光电法 | 第22-25页 |
| 1.2.5 自相关法 | 第25-29页 |
| 1.2.6 横向偏转腔测量法 | 第29-35页 |
| 1.2.7 电光采样法 | 第35-39页 |
| 1.2.8 国内外束长测量方法对比 | 第39-40页 |
| 1.3 本文主要研究内容与创新点 | 第40-43页 |
| 第二章 储存环双频法束长测量系统的理论与设计 | 第43-64页 |
| 2.1 双频法束长测量的理论分析 | 第43-50页 |
| 2.1.1 双频法束长计算的简易模型 | 第43-45页 |
| 2.1.2 多束团间的相互影响 | 第45-48页 |
| 2.1.3 逐束团束长测量的需求分析 | 第48-50页 |
| 2.2 双频法束长测量系统设计 | 第50-63页 |
| 2.2.1 射频电路设计的基础知识 | 第51-52页 |
| 2.2.2 双频法束长测量系统整体设计 | 第52-53页 |
| 2.2.3 射频前端电路设计 | 第53-61页 |
| 2.2.4 数据处理算法 | 第61-63页 |
| 2.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 第三章 储存环束流实验与数据分析 | 第64-101页 |
| 3.1 条纹相机测量束长与电荷量依赖关系 | 第64-67页 |
| 3.2 测量系统评估 | 第67-76页 |
| 3.2.1 单束团下系统参数标定 | 第69-71页 |
| 3.2.2 多束团下系统参数标定 | 第71-72页 |
| 3.2.3 系统动态范围评估 | 第72-76页 |
| 3.3 注入过程捕捉实验 | 第76-93页 |
| 3.3.1 束长同步振荡过程仿真研究 | 第77-83页 |
| 3.3.2 单束团注入实验 | 第83-87页 |
| 3.3.3 多束团注入实验 | 第87-91页 |
| 3.3.4 单束团丢束过程 | 第91-93页 |
| 3.3.5 大动态范围下束长与电荷量的依赖关系 | 第93页 |
| 3.4 和差信号束长测量实验 | 第93-97页 |
| 3.4.1 实验设计与框图 | 第94-96页 |
| 3.4.2 实验结果与现状 | 第96-97页 |
| 3.5 误差分析与评估 | 第97-100页 |
| 3.5.1 误差分析 | 第97-98页 |
| 3.5.2 系统误差与随机误差的评估 | 第98-100页 |
| 3.6 本章小结 | 第100-101页 |
| 第四章 双频双腔法束长测量系统 | 第101-119页 |
| 4.1 双频双腔法的原理与系统设计 | 第101-104页 |
| 4.2 ADS软件仿真 | 第104-107页 |
| 4.3 射频前端设计 | 第107-117页 |
| 4.3.1 整体结构 | 第108-112页 |
| 4.3.2 锁相结构线性度测试 | 第112-114页 |
| 4.3.3 求差和结构 | 第114-117页 |
| 4.4 本章小结 | 第117-119页 |
| 第五章 结论与展望 | 第119-121页 |
| 参考文献 | 第121-127页 |
| 在学期间发表的论文 | 第127-128页 |
| 致谢 | 第128页 |
