| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第9-13页 |
| 1.1 课题研究的目的及意义 | 第9页 |
| 1.2 课题研究内容 | 第9-11页 |
| 1.3 论文的主要成果 | 第11-12页 |
| 1.4 课题依托 | 第12页 |
| 1.5 文章架构介绍 | 第12-13页 |
| 第2章 粒子探测器 | 第13-26页 |
| 2.1 高能粒子探测与电磁监测试验卫星 | 第13-14页 |
| 2.1.1 高能粒子探测 | 第13-14页 |
| 2.1.2 电磁监测试验卫星 | 第14页 |
| 2.2 电磁监测试验卫星(ZH-1)高能粒子探测器介绍 | 第14-17页 |
| 2.2.1 高能粒子探测器整体介绍 | 第14-15页 |
| 2.2.2 高能粒子探测HEPP-L/HEPP-H能区划分 | 第15页 |
| 2.2.3 高能粒子探测器设计 | 第15-16页 |
| 2.2.4 HEPP-H探测器整体介绍 | 第16-17页 |
| 2.3 HEPP-H量能器 | 第17-22页 |
| 2.3.1 HEPP-H量能器技术指标 | 第17-18页 |
| 2.3.2 HEPP-H量能器整体设计 | 第18-22页 |
| 2.4 国内外探测器前端电子学读出方案介绍 | 第22-24页 |
| 2.4.1 AMS读出电子学系统 | 第23-24页 |
| 2.4.2 空间中心带电粒子辐射探测器读出电子学系统 | 第24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-26页 |
| 第3章 HEPP-H量能器读出电子学设计 | 第26-42页 |
| 3.1 量能器前端读出电子学方案总体设计 | 第26-30页 |
| 3.1.1 塑料闪烁体分离元件读出方法 | 第26-27页 |
| 3.1.2 CsI晶体电子学读出方法 | 第27-28页 |
| 3.1.3 ASIC芯片VA32介绍 | 第28-30页 |
| 3.2 读出电子学电路的设计 | 第30-37页 |
| 3.2.1 塑料闪烁体电子学读出电路 | 第30-32页 |
| 3.2.2 CsI晶体读出电子学电路 | 第32-35页 |
| 3.2.3 PMT高压供电电路 | 第35-37页 |
| 3.3 数据获取 | 第37-39页 |
| 3.3.1 FPGA的选择 | 第37-38页 |
| 3.3.2 VA32与FPGA的电平转换 | 第38页 |
| 3.3.3 电流监测 | 第38-39页 |
| 3.4 电磁兼容(EMC)设计 | 第39-41页 |
| 3.4.1 接地设计 | 第39页 |
| 3.4.2 滤波设计 | 第39-40页 |
| 3.4.3 布局布线设计 | 第40-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 量能器读出电子学电路测试 | 第42-57页 |
| 4.1 读出电路的测试 | 第42-48页 |
| 4.1.1 塑料闪烁体读出电子学分离元件电路的测试 | 第42-44页 |
| 4.1.2 CsI晶体读出电子学电路测试 | 第44-48页 |
| 4.2 光电倍增管分压器的测试 | 第48-53页 |
| 4.2.1 光电倍增管(PMT)介绍 | 第48-50页 |
| 4.2.2 分压器打拿极测试方法 | 第50-51页 |
| 4.2.3 分压器打拿极测试输出结果 | 第51-52页 |
| 4.2.4 多道刻度 | 第52-53页 |
| 4.3 分压器供电高压电源测试 | 第53-56页 |
| 4.3.1 高压输出结果 | 第53-54页 |
| 4.3.2 高压输出性能测试 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 量能器系统测试 | 第57-64页 |
| 5.1 量能器宇宙线~μ子测试 | 第57-60页 |
| 5.1.1 测试方法 | 第57-59页 |
| 5.1.2 测试结果 | 第59-60页 |
| 5.2 HEPP-H质子束流实验测试 | 第60-63页 |
| 5.2.1 束流简介 | 第60-61页 |
| 5.2.2 测试方法 | 第61-62页 |
| 5.2.3 测试结果 | 第62-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 总结 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 攻读学位期间取得的学术成果 | 第67页 |
