串联故障电弧的特征提取和检测
| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1 研究背景和意义 | 第8-10页 |
| 2 研究现状 | 第10-12页 |
| 2.1 国外的研究现状 | 第10-11页 |
| 2.2 国内的研究现状 | 第11-12页 |
| 3 本章小结 | 第12-14页 |
| 第二章 故障电弧理论 | 第14-20页 |
| 1 故障电弧的基本概念 | 第14-17页 |
| 1.1 故障电弧的定义 | 第14-15页 |
| 1.2 故障电弧的分类 | 第15-17页 |
| 2 故障电弧的基本性质 | 第17-18页 |
| 3 本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 故障电弧检测的算法 | 第20-30页 |
| 1 基于时域的算法 | 第20-21页 |
| 1.1 利用故障电弧的波形特征检测故障电弧 | 第20页 |
| 1.2 基于时域波形比较法检测故障电弧 | 第20-21页 |
| 2 基于频域的故障电弧检测 | 第21-26页 |
| 2.1 傅里叶级数和傅里叶变换 | 第22页 |
| 2.2 离散傅里叶变换 | 第22-24页 |
| 2.3 快速傅里叶变换 | 第24-26页 |
| 3 小波变换分析故障电弧 | 第26-30页 |
| 3.1 函数空间 | 第27页 |
| 3.2 小波分析理论 | 第27-30页 |
| 4 本章小结 | 第30页 |
| 第四章 故障电弧模拟实验和采集到的波形 | 第30-49页 |
| 1 AFDD的相关规定介绍 | 第30-35页 |
| 1.1 AFDD中的故障电弧发生电路 | 第31-33页 |
| 1.2 AFDD中的故障电弧发生器 | 第33-35页 |
| 1.3 AFDD中规定的屏蔽负载 | 第35页 |
| 2 故障电弧实验的采集装置 | 第35-39页 |
| 2.1 上位机LabVIEW的介绍 | 第36-39页 |
| 2.2 LabVIEW采集程序的介绍 | 第39页 |
| 3 故障电弧的波形 | 第39-48页 |
| 4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 实验结果分析 | 第49-62页 |
| 1 利用波形比较法检测故障电弧 | 第49-51页 |
| 2 利用快速傅里叶变换检测故障电弧 | 第51-58页 |
| 3 小波变换分析检测故障电弧 | 第58-61页 |
| 4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 串联故障电弧的检测 | 第62-78页 |
| 1 硬件电路 | 第62-66页 |
| 1.1 正半周检测电路 | 第62-64页 |
| 1.2 STM32开发板(MCU) | 第64-66页 |
| 2 软件的实现 | 第66-75页 |
| 2.1 检测故障电弧的程序 | 第68-75页 |
| 3 检测结果 | 第75-76页 |
| 4 本章小结 | 第76-78页 |
| 第七章 工作总结与展望 | 第78-80页 |
| 1 总结 | 第78页 |
| 2 展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第84页 |
