单频机制穿透雷达成像的干涉条纹现象与抑制技术研究
| 表目录 | 第1-7页 |
| 图目录 | 第7-9页 |
| 摘要 | 第9-11页 |
| Abstract | 第11-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| ·研究背景和意义 | 第13页 |
| ·单频机制穿透雷达技术发展概况 | 第13-17页 |
| ·干涉条纹现象研究现状 | 第17-20页 |
| ·单频机制穿透雷达的干涉条纹与相干斑 | 第17-18页 |
| ·与干涉条纹相关的研究 | 第18-20页 |
| ·论文主要研究内容 | 第20-22页 |
| 第二章 单频机制穿透雷达的近场电磁场理论推导 | 第22-31页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·电磁场理论——麦克斯韦方程及边界条件 | 第22-24页 |
| ·麦克斯韦方程组 | 第23页 |
| ·时变电磁场的边界条件 | 第23-24页 |
| ·穿透成像系统的喇叭天线近场求解 | 第24-29页 |
| ·H 面扇形喇叭天线辐射 | 第24-26页 |
| ·口径场求自由空间电磁场 | 第26-28页 |
| ·在介质表面反射和折射 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 单频机制穿透雷达的干涉条纹现象分析 | 第31-47页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·穿透成像实验中发现的干涉条纹现象 | 第31-32页 |
| ·基于点源辐射模型的干涉条纹产生机理分析 | 第32-38页 |
| ·光学的干涉条纹原理 | 第32-33页 |
| ·点源辐射模型的干涉条纹分析 | 第33-38页 |
| ·介质厚度的影响分析 | 第38-40页 |
| ·薄层介质的干涉条纹间距分析 | 第40-41页 |
| ·干涉条纹的电磁仿真结果分析 | 第41-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 干涉条纹的抑制技术 | 第47-60页 |
| ·引言 | 第47页 |
| ·干涉条纹参数模型滤波器 | 第47-51页 |
| ·干涉条纹模型 | 第47-48页 |
| ·干涉条纹参数模型滤波器 | 第48-49页 |
| ·参数模型滤波器针对干涉条纹抑制处理 | 第49-51页 |
| ·干涉条纹的 FK 滤波器 | 第51-55页 |
| ·FK 变换理论 | 第51-52页 |
| ·干涉条纹的 FK 域特征分析 | 第52-53页 |
| ·干涉条纹 FK 滤波器 | 第53-55页 |
| ·FK 滤波器对干涉条纹抑制处理 | 第55页 |
| ·滤波器性能分析 | 第55-57页 |
| ·实测数据的干涉条纹抑制处理结果分析 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 结论与展望 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 作者在学期间学术成果 | 第69页 |
