X荧光分析系统中信号处理技术的应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-13页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·本论文的主要内容 | 第12-13页 |
| 第2章 X 荧光分析系统原理及构成 | 第13-21页 |
| ·X 射线产生及检测原理 | 第13-16页 |
| ·X 射线的发现和本质 | 第13页 |
| ·X 射线及 X 荧光的产生 | 第13-15页 |
| ·X 射线检测原理 | 第15-16页 |
| ·X 射线荧光分析系统组成 | 第16-20页 |
| ·激发源 | 第16-17页 |
| ·探测器 | 第17-18页 |
| ·SDD 与 Si-PIN 探测器对比 | 第18-19页 |
| ·多道脉冲幅度分析器 | 第19-20页 |
| ·系统检出限原理 | 第20-21页 |
| 第3章 关键器件选型及硬件电路设计 | 第21-37页 |
| ·SDD 探测器选型 | 第21-25页 |
| ·SDD 探测器参数对比 | 第21-22页 |
| ·SDD 探测器样品性能测试 | 第22-25页 |
| ·SDD 探测器相关电路设计 | 第25-34页 |
| ·高压偏置电路设计 | 第25-29页 |
| ·信号调理电路设计 | 第29-34页 |
| ·X 射线光管的调研选型 | 第34-35页 |
| ·Amptek 数字脉冲处理器 | 第35-36页 |
| 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 系统检出限对比测试及改进 | 第37-51页 |
| ·测试方案设计 | 第37-38页 |
| ·实验平台搭建 | 第37页 |
| ·测试内容及步骤 | 第37-38页 |
| ·光管激发功率对检出限的影响 | 第38-39页 |
| ·SDD 探测器测试条件选择 | 第39-44页 |
| ·滤光片选择分析测试 | 第39-42页 |
| ·X 光管激发条件选择 | 第42-44页 |
| ·系统检出限建模分析 | 第44页 |
| ·实验问题分析及改进 | 第44-50页 |
| ·测试环境对检出限的干扰 | 第45页 |
| ·X 光管温漂对检出限的影响 | 第45-47页 |
| ·X 光管温控方案设计 | 第47-48页 |
| ·分次打光的可行性分析 | 第48-50页 |
| 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 总结与展望 | 第51-52页 |
| ·本文总结 | 第51页 |
| ·工作展望 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 附录 | 第56页 |
